[发明专利]排风装置及半导体热处理设备在审
申请号: | 202111014360.3 | 申请日: | 2021-08-31 |
公开(公告)号: | CN113611637A | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 刘红丽;王艾;侯建明 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;F27D9/00;F27D19/00 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 周永强 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 半导体 热处理 设备 | ||
1.一种排风装置,应用于半导体热处理设备,其特征在于,包括:
第一排风组件(100),所述第一排风组件(100)的进风口与所述半导体热处理设备的炉体(400)的出风口连通;
控制阀组件(200),所述控制阀组件(200)包括阀本体(210)、阀板(220)和驱动器(230),所述阀本体(210)连接于所述第一排风组件(100)的出风口处,所述阀本体(210)上设有与所述第一排风组件(100)的出风口相对的阀口,所述阀本体(210)上还设有用于容纳所述阀板(220)的容纳空间,所述容纳空间的一侧设有开口,所述驱动器(230)与所述阀板(220)连接,用于驱动所述阀板(220)移入所述容纳空间或从所述容纳空间移出,以使所述阀板(220)封闭或开启所述阀口。
2.根据权利要求1所述的排风装置,其特征在于,所述阀板(220)的尺寸小于所述容纳空间的尺寸,且大于所述阀口的尺寸,在所述阀板(220)移入所述容纳空间的情况下,所述阀板(220)与所述容纳空间的内壁间隙配合。
3.根据权利要求1或2所述的排风装置,其特征在于,所述第一排风组件(100)包括过渡盒(110)和隔热件(120);
所述过渡盒(110)在所述炉体(400)的出风口处与所述炉体(400)连接,所述隔热件(120)设置于所述过渡盒(110)中,且所述隔热件(120)中设有通风道(121),所述通风道(121)两端的开口形成所述第一排风组件(100)的进风口和出风口。
4.根据权利要求3所述的排风装置,其特征在于,所述过渡盒(110)包括盒本体(111)以及分别设置于盒本体(111)两端开口处的第三法兰(112)和第四法兰(113),所述盒本体(111)远离所述炉体(400)的开口的尺寸大于靠近所述炉体(400)的开口的尺寸,所述第三法兰(112)设在所述盒本体(111)远离所述炉体(400)的开口处,并与所述阀本体(210)连接,所述第四法兰(113)设在所述盒本体(111)靠近所述炉体(400)的开口处,用于在所述炉体(400)的出风口处与所述炉体(400)连接;
所述隔热件(120)包括第一子隔热件(122)和第二子隔热件(123),所述第一子隔热件(122)设置于所述过渡盒(110)靠近所述炉体(400)的区域中且形状与该区域的形状匹配,所述第二子隔热件(123)设置于所述过渡盒(110)的远离所述炉体(400)的区域中且形状与该区域的形状匹配。
5.根据权利要求4所述的排风装置,其特征在于,所述第一子隔热件(122)中所述通风道(121)的横截面的面积保持不变,所述第二子隔热件(123)中所述通风道(121)的横截面的面积沿远离所述半导体热处理设备的方向逐渐变大,所述第二子隔热件(123)中所述通风道(121)的横截面的最大面积小于所述阀口的面积。
6.根据权利要求3所述的排风装置,其特征在于,所述阀本体(210)包括层叠设置的第一法兰(211)和第二法兰(212),所述第一法兰(211)和第二法兰(212)均设有排风口(213),二者配合形成所述阀口;
所述第一法兰(211)和所述第二法兰(212)中一者的朝向另一者的表面上环绕所述排风口(213)设有凹槽(2111),所述凹槽(2111)与另一者的表面围设成所述容纳空间;或者,所述第一法兰(211)和所述第二法兰(212)相对的表面上环绕所述排风口(213)均设有凹槽(2111),所述第一法兰(211)的凹槽(2111)的槽口与所述第二法兰(212)的凹槽(2111)的槽口相对设置,围设成所述容纳空间;
所述凹槽(2111)的一侧面设有避让口,以形成所述开口。
7.根据权利要求1所述的排风装置,其特征在于,所述驱动器(230)包括直线驱动件(231)和固定支架(232);
所述固定支架(232)连接于所述第一排风组件(100)或阀本体(210),所述直线驱动件(231)连接所述固定支架(232),所述直线驱动件(231)的驱动端与所述阀板(220)连接,以驱动所述阀板(220)移动。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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