[发明专利]一种高精度回转体的测量装置和测量方法

说明书

本发明提供一种高精度回转体测量装置和测量方法，通过扫描装置扫描固定于定位组件上的回转体，实现对回转体尺寸的检测，包括长度以及宽度；通过设置扫描装置根据变速扫描轨迹进行变速扫描，相比传统的扫描，在保证精度的情况下，减少扫描产生的数据，提高扫描效率。

技术领域

本发明涉及激光扫描领域，特别是涉及一种高精度回转体测量装置和测量方法。

背景技术

随着电机行业的发展，需要各种型号的机轴，其中由于机轴需要高速旋转动作，因此对于机轴的精度要求极高。机轴的精度直接影响设备的运行，包括设备的寿命和设备运行的噪音等方面。在传统的方法中，采用人工检测方法，其工作强度大、效率低，而且误差也很大，因此需要一种能够高效、精确测量回转体尺寸参数的检测设备。

发明内容

本发明的目的是解决现有技术的不足，提供一种高精度回转体测量装置和测量方法。

为了解决上述问题，本发明采用如下技术方案：

一种高精度回转体测量装置，包括数据处理装置、固定台、运动装置、定位组件、扫描装置以及测距装置，其中运动装置设置于固定台上；定位组件分为两部分，分别设置于运动装置以及固定台上，定位组件用于固定回转体；扫描装置设置于运动装置上；测距装置设置于固定台上，测距装置用于检测扫描装置的行进距离；处理装置分别与测距装置、运动装置以及扫描装置通信连接。

进一步的，所述定位组件包括上定位装置以及下定位装置，其中下定位装置包括下定位锥、调节座以及滑动组件，下定位锥设置于调节座上，调节座通过滑动组件活动设置于底座上；上定位装置设置于丝杆组上，上定位装置还与立架之间用过滑轨连接；

测距装置采用光栅尺，包括标尺光栅以及读取头，其中标尺光栅设置于立架上，读取头设置于扫描装置的侧面；读取头与标尺光栅相对设置；测距装置与数据处理装置通信连接。

进一步的，所述扫描装置包括滑动板二、发射端以及接收端，发射端和接收端均设置于滑动板二上，其中发射端和接收端相对设置，发射端和接收端之间保持设定距离；上定位装置以及下定位装置位于发射端和接收端之间；

数据处理装置包括PLC设备以及上位机，上位机与PLC设备连接；PLC设备还分别与扫描装置以及测距装置通信连接。

一种高精度回转体的测量方法，包括如下步骤：

步骤1：扫描装置判断上定位锥和下定位锥之间的是否存在待测样品；若存在待测样品，则进入步骤2；否则，在数据处理装置的显示器上显示无待测样品，结束步骤；

步骤2：扫描装置对待测样品进行快速扫描，结合测距装置，获取待测样品的快速扫描数据；

步骤3：数据处理装置获取快速扫描数据，并将快速扫描数据与预存的模板数据进行比对；根据比对的结果判断是否存在相应的预存模板；若存在相应的预存模板，则进入步骤4；若没有相应的预存模板，则提示制作模板，完成模板制作后进入步骤4；

步骤4：数据处理装置根据预存模板数据，获取检测区域以及跳变区域；

步骤5：数据处理装置根据检测区域以及跳变区域，规划变速扫描轨迹；

步骤6：扫描装置根据变速扫描轨迹对待测样品进行变速扫描；将变速扫描数据传输至数据处理中心；

步骤7：数据处理中心对变速扫描数据进行补偿校正处理，结束步骤。

进一步的，所述步骤1中，通过扫描装置在设定高度是否存在扫描图像，或者通过下定位装置上设置的压力传感器度数，或者通过驱动上定位锥的电机一的扭矩，来判断上定位锥和下定位锥之间是否存在待测样品；在步骤1之前需要对上定位锥和下定位锥的相对位置进行倾斜自校操作。