[发明专利]电子器件及对应的自测试方法

说明书

本公开的实施例涉及电子器件及对应的自测试方法。电子器件(诸如，e‑fuse)包括被配置为设置为一个或多个自测试配置的模拟电路装置。为此，器件具有自测试控制器电路装置，自测试控制器电路装置包括：模拟配置和感测电路，被配置为将模拟电路装置设置为一个或多个自测试配置，并感测在被设置为这种自测试配置的模拟电路装置中出现的测试信号；数据采集电路，配置为采集在模拟感测电路装置处感测到的测试信号并将感测到的测试信号转换为数字；及故障事件检测电路，被配置为对照参考参数检查转换为数字的测试信号。器件包括集成在其中的自测试控制器，自测试控制器被配置为在测试定序器的协调下控制器件的零件或级以配置电路、获取数据和控制测试执行。

优先权声明

本申请要求于2020年8月25日提交的意大利专利申请No.102020000020422的优先权权益，该申请的内容在法律允许的最大范围内通过引用整体并入本文。

技术领域

本描述涉及电子器件。一个或多个实施例可以被应用以提供在电子器件中的自测试能力。例如，一个或多个实施例可以被应用在用于汽车行业中的汽车电气化的功率控制中。

背景技术

各种技术领域都可以从展现自测试能力的器件中受益。

例如，这些领域可以包括：可能经由主机微控制器控制的用于汽车应用的功率控制电子器件；实现功率部件的诊断和保护功能以促进在故障条件下的安全控制行为的器件；对设备故障时间(例如，FIT1)有严格规范的应用程序；能够及时检测故障零件并且采取对应的措施以促进达到安全条件的器件；以及在正常操作期间保持活动状态的自动诊断功能。

可以期望实时监测与内部功率部分或外部功率部分有关的诊断/保护机制的电路控制链。

为此，设置有自测试特征的器件的期望的特征可以包括强制操作、感测操作、处理操作和检测操作的能力，以便利用将故障通信给嵌入系统(例如，主机控制器)的能力检查随时间变化的器件行为，或者对器件硬件采取措施以便实现应用程序安全规范。

在保留数据上下文的情况下，当监测/测试某些功能时保持器件行为基本不变表示另一个期望的特征，因为一旦某些保护特征已经被测试，则有助于完全地恢复操作条件。

另一个兴趣点在于定义能够在不同器件之间移植的标准方法和/或通用设计架构。这可以改善使用的灵活性，同时还可以减小设计工作和开发周期，从而对成本产生有益的影响。

这些因素可以有助于克服与“特别”解决方案有关的缺陷，这些解决方案可能特定于某个器件，因此很难与主机控制器的期望的可编程控制和/或与硬件自动激活兼容。

例如，具有基于DFT专有架构和串行方法的Mentor Tessent的当前可用的某个技术可能就是这种情况。

由于这种常规方法特定于某些现场内置自测试(BIST)应用程序，因此该传统方法可能在产品/平台之间表现出较差的灵活性和可移植性。由于串行访问，它也可能表现出固有的缓慢性(这使得这种解决方案几乎不适合延迟关键检查)，并且还可能对与特定器件状态有关的应用程序内测试的时间间隔施加限制。

本领域需要有助于克服上述缺点。

发明内容

一个或多个实施例可以涉及电子器件。

一个或多个实施例可以涉及对应的方法。

一个或多个实施例可以提供以下优点中的一个或多个优点：用于器件监测的应用中的自测试程序的可编程集合；灵活控制：单次测试/序列执行，串行执行/并行执行；降低与通过添加控件和寄存器丰富的自测试集合有关的开发成本；并且在具有相似要求的不同的项目/平台之间更容易移植。