[发明专利]电子器件及对应的自测试方法

权利要求书

1.一种电子器件，包括：

模拟电路装置，被配置为可设置为至少一个自测试配置；以及

自测试控制器电路装置，包括：

测试协调电路装置，具有输入端口，所述输入端口被配置为接收指示自测试事件的集合的器件控制信号；

模拟配置和感测电路，被配置为根据由所述测试协调电路装置接收的所述器件控制信号，来将所述模拟电路装置设置为多个不同的自测试配置，并且感测在被设置为所述多个不同的自测试配置的所述模拟电路装置中出现的测试信号；

数据采集电路，被配置为采集和数字化感测到的所述测试信号；以及

故障事件检测电路，被配置为对照参考参数，检查数字化的、感测到的所述测试信号。

2.根据权利要求1所述的电子器件，其中所述测试协调电路装置包括有限状态机，所述有限状态机响应于引起所述测试协调电路装置通过自测试状态在空闲状态之间转换的转换信号而操作，在所述自测试状态期间，所述模拟配置和感测电路将所述模拟电路装置设置为所述多个不同的自测试配置。

3.根据权利要求2所述的电子器件，其中在所述测试协调电路装置中的所述有限状态机被配置为响应于在所述自测试状态期间中止自测试而转换到锁定状态。

4.根据权利要求1所述的电子器件，其中所述自测试控制器电路装置包括数据路径配置电路，所述数据路径配置电路被耦合在所述数据采集电路与所述故障事件检测电路之间，所述数据路径配置电路被配置为提供用于数字化的、感测到的所述测试信号的多个数字处理数据路径配置。

5.一种操作具有模拟电路装置和自测试控制器电路装置的电子器件的方法，所述自测试控制器电路装置用于与所述模拟电路装置协作以执行所述电子器件的测试，所述方法包括：

激活所述自测试控制器电路装置；

响应于所述自测试控制器电路装置的激活，将所述模拟电路装置设置为多个不同的自测试配置，并且然后感测在所述模拟电路装置中出现的测试信号；

采集和数字化感测到的所述测试信号；

对照参考参数，检查数字化的、感测到的所述测试信号；以及

响应于所述检查指示数字化的、感测到的所述测试信号与所述参考参数不匹配，生成至少一个故障检测信号。

6.根据权利要求5所述的方法，其中激活所述自测试控制器电路装置包括：执行所述自测试控制器电路装置的自动启动控制。

7.根据权利要求5所述的方法，其中激活所述自测试控制器电路装置包括：当模拟配置和感测电路被配置为将所述模拟电路装置设置为所述多个不同的自测试配置时，激活多个自测试事件。

8.一种电子器件，包括：

模拟电路装置，被配置为可设置为至少一个自测试配置；以及

自测试控制器电路装置，包括：

模拟配置和感测电路，被配置为将所述模拟电路装置设置为所述至少一个自测试配置，并且感测在被设置为所述至少一个自测试配置的所述模拟电路装置中出现的测试信号；

数据采集电路，被配置为采集和数字化感测到的所述测试信号；

故障事件检测电路，被配置为对照参考参数，检查数字化的、感测到的所述测试信号；以及

数据路径配置电路，被耦合在所述数据采集电路与所述故障事件检测电路之间，所述数据路径配置电路被配置为提供用于数字化的、感测到的所述测试信号的多个数字处理数据路径。

9.根据权利要求8所述的电子器件，其中所述自测试控制器电路装置进一步包括具有输入端口的测试协调电路装置，所述输入端口被配置为接收指示至少一个自测试事件的器件控制信号；并且其中所述模拟配置和感测电路被配置为根据在所述测试协调电路装置处接收的所述器件控制信号，来将所述模拟电路装置设置为对应的至少一个自测试配置。