[发明专利]深度估计方法、装置、计算机设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110968533.9 申请日: 2021-08-23
公开(公告)号: CN113658242A 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 杨幸彬;周立阳;王哲峰;鲍虎军 申请(专利权)人: 深圳市慧鲤科技有限公司
主分类号: G06T7/55 分类号: G06T7/55
代理公司: 北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889 代理人: 袁忠林
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 深度 估计 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种深度估计方法,其特征在于,包括:

获取对目标场景进行采集得到的待处理图像、以及所述待处理图像的参考图像;

确定所述待处理图像中的像素点在基于多个采样深度中的每个采样深度投影至所述参考图像中后,在所述每个采样深度下的位置匹配代价;

基于所述像素点在所述多个采样深度下的位置匹配代价,确定所述像素点的深度值。

2.根据权利要求1所述的深度估计方法,其特征在于,所述获取待处理图像,包括:

获取对目标场景进行采集得到的视频;

从所述视频的视频帧图像中,确定所述待处理图像。

3.根据权利要求2所述的深度估计方法,其特征在于,获取所述待处理图像的参考图像,包括:

基于所述待处理图像的时间戳,从所述视频中为所述待处理图像确定多张备选图像;

基于预先确定的图像筛选条件,从所述多帧备选图像中确定所述参考图像。

4.根据权利要求3所述的深度估计方法,其特征在于,所述图像筛选条件包括下述至少一种:

所述待处理图像与所述备选图像中匹配成功的关键点的数量大于第一数量阈值;

所述备选图像中可见地图点的数量大于第二数量阈值;

所述待处理图像与所述备选图像的帧编号之间的差值小于差值阈值;

所述待处理图像与所述备选图像的基线长度,大于平均基线长度;其中,所述平均基线长度是基于所述多帧备选图像中部分备选图像与所述待处理图像之间的基线长度确定的。

5.根据权利要求4所述的深度估计方法,其特征在于,还包括:采用下述方式确定所述平均基线长度:

确定所述待处理图像与所述多帧备选图像中每帧备选图像的基线长度;

基于所述基线长度、预设的基线长度阈值、以及预设的平均基线长度阈值,从所述多张备选图像中,确定选定图像;

基于所述选定图像与所述待处理图像的基线长度,确定所述平均基线长度。

6.根据权利要求5所述的深度估计方法,其特征在于,

所述选定图像与所述待处理图像之间的基线长度大于所述预设的基线长度阈值,且所述选定图像与所述待处理图像之间的基线长度的平均值小于或者等于所述平均基线长度阈值。

7.根据权利要求1-6任一项所述的深度估计方法,其特征在于,所述确定所述待处理图像中的像素点在基于多个采样深度中的每个采样深度投影至所述参考图像中后,在所述每个采样深度下的位置匹配代价,包括:

确定所述参考图像的数量是否大于或者等于预设的图像数量阈值;

在所述参考图像的数量大于或者等于所述预设的图像数量阈值的情况下,确定所述待处理图像中的像素点在基于多个采样深度中的每个采样深度投影至所述参考图像中后,在所述每个采样深度下的位置匹配代价。

8.根据权利要求1-7任一项所述的深度估计方法,其特征在于,所述确定所述待处理图像中的像素点在基于多个采样深度中的每个采样深度投影至所述参考图像中后,在所述每个采样深度下的位置匹配代价,包括:

针对所述每个采样深度,基于所述待处理图像中的像素点在所述待处理图像中的第一位置信息、以及所述每个采样深度,得到所述像素点投影至所述参考图像中后形成的投影像素点在所述参考图像中的第二位置信息;

基于所述投影像素点在所述参考图像中的第二位置信息,确定所述像素点在所述每个采样深度下的位置匹配代价。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市慧鲤科技有限公司,未经深圳市慧鲤科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110968533.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top