[发明专利]电芯尺寸测量方法、装置及系统在审
申请号: | 202110957261.2 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113405475A | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 吴轩;冉昌林;刘超;蔡汉钢 | 申请(专利权)人: | 武汉逸飞激光股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/08 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 张睿 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 尺寸 测量方法 装置 系统 | ||
1.一种电芯尺寸测量方法,其特征在于,包括:
获取待测电芯的俯视图像;
基于所述俯视图像,获取所述待测电芯的类型;
在所述待测电芯的类型是圆柱电芯的情况下,获取所述待测电芯的左视图像;
基于所述待测电芯的俯视图像和所述待测电芯的左视图像,获取所述待测电芯的尺寸信息;
其中,所述待测电芯的尺寸信息包括所述待测电芯的长度和直径。
2.根据权利要求1所述的电芯尺寸测量方法,其特征在于,在所述基于所述俯视图像,获取所述待测电芯的类型之后,还包括:
在所述待测电芯的类型是软包电芯的情况下,基于所述待测电芯的俯视图像,获取所述待测电芯的尺寸信息;
其中,所述待测电芯的尺寸信息包括所述待测电芯的总长度和极耳的长度。
3.根据权利要求1或2所述的电芯尺寸测量方法,其特征在于,在所述获取待测电芯的俯视图像之前,还包括:
获取与所述待测电芯的俯视图像对应的第一换算系数;
获取与所述待测电芯的左视图像对应的第二换算系数。
4.根据权利要求3所述的电芯尺寸测量方法,其特征在于,所述基于所述待测电芯的俯视图像和所述待测电芯的左视图像,获取所述待测电芯的尺寸信息,具体包括:
基于所述待测电芯的俯视图像,获取所述待测电芯的第一像素距离,并基于所述待测电芯的左视图像,所述待测电芯的第二像素距离;
基于所述第一像素距离和所述第一换算系数,获取所述待测电芯的长度,并基于所述第二像素距离和所述第二换算系数,获取所述待测电芯的直径。
5.根据权利要求3所述的电芯尺寸测量方法,其特征在于,所述在所述待测电芯的类型是软包电芯的情况下,基于所述待测电芯的俯视图像,获取所述待测电芯的尺寸信息,具体包括:
基于所述待测电芯的俯视图像,获取所述待测电芯的第三像素距离和第四像素距离;
基于所述第三像素距离和所述第一换算系数,获取所述待测电芯的总长度,并基于所述第四像素距离和所述第一换算系数,获取所述待测电芯的极耳长度。
6.根据权利要求4所述的电芯尺寸测量方法,其特征在于,所述基于所述待测电芯的俯视图像,获取所述待测电芯的第一像素距离,具体包括:
对所述待测电芯的俯视图像进行轮廓提取,得到第一轮廓;
基于所述第一轮廓,获取所述待测电芯的第一像素距离;
并基于所述待测电芯的左视图像,获取所述待测电芯的第二像素距离,具体包括:
对所述待测电芯的左视图像进行轮廓提取,得到第二轮廓;
基于所述第二轮廓,获取所述待测电芯的第二像素距离。
7.一种电芯尺寸测量装置,其特征在于,包括:
俯视图像获取模块,用于获取待测电芯的俯视图像;
类型识别模块,用于基于所述俯视图像,获取所述待测电芯的类型;
左视图像获取模块,用于在所述待测电芯的类型是圆柱电芯的情况下,获取所述待测电芯的左视图像;
第一尺寸信息获取模块,用于基于所述待测电芯的俯视图像和所述待测电芯的左视图像,获取所述待测电芯的尺寸信息;
其中,所述尺寸信息包括所述待测电芯的长度和直径。
8.一种电芯尺寸测量系统,其特征在于,包括第一摄像头、第二摄像头和如权利要求7所述的电芯尺寸测量装置;
所述第一摄像头与所述电芯尺寸测量装置通信连接,用于拍摄所述待测电芯的俯视图像;
所述第二摄像头与所述电芯尺寸测量装置通信连接,用于拍摄所述待测电芯的左视图像。
9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述的电芯尺寸测量方法的步骤。
10.一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的电芯尺寸测量方法的步骤。
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