[发明专利]位姿评价方法、位姿确定方法、对应装置和电子设备在审
申请号: | 202110931976.0 | 申请日: | 2021-08-13 |
公开(公告)号: | CN113793250A | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | 冯洋 | 申请(专利权)人: | 北京迈格威科技有限公司 |
主分类号: | G06T3/00 | 分类号: | G06T3/00;G06T7/62;G06T7/70 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 唐正瑜 |
地址: | 100090 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 评价 方法 确定 对应 装置 电子设备 | ||
1.一种位姿评价方法,其特征在于,包括:
获取待处理图像;所述待处理图像包括目标对象的图像;
根据所述待处理图像,获取所述目标对象所对应的目标模型、以及所述目标对象在所述待处理图像的拍摄时刻所对应的估计位姿;
确定所述目标模型在所述估计位姿下投影在所述待处理图像上的投影点的凸包;
基于所述投影点的凸包以及所述目标对象的图像,计算所述估计位姿的置信度,以根据所述置信度评价所述估计位姿。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述投影点的凸包以及所述目标对象的图像,计算所述估计位姿的置信度,包括:
在所述待处理图像中,确定所述目标对象的轮廓多边型;所述轮廓多边形表征所述目标对象的轮廓线所组成的多边形;
计算所述轮廓多边形与所述凸包之间的贴合程度,并将所述贴合程度确定为所述置信度。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述投影点的凸包以及所述目标对象的图像,计算所述估计位姿的置信度,包括:
确定所述投影点的凸包与所述目标对象所对应的对象最小外接矩形之间的第一贴合程度;以及
确定所述投影点的凸包所对应的凸包最小外接矩形与所述对象最小外接矩形之间的第二贴合程度;
基于所述第一贴合程度和所述第二贴合程度,计算所述置信度。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述确定所述投影点的凸包与所述目标对象所对应的对象最小外接矩形之间的第一贴合程度,包括:
确定所述投影点的凸包与所述对象最小外接矩形之间的第一交集部分;
利用所述第一交集部分与所述投影点的凸包之间的第一面积比值表征所述第一贴合程度;以及
所述确定所述投影点的凸包所对应的凸包最小外接矩形与所述对象最小外接矩形之间的第二贴合程度,包括:
确定所述凸包最小外接矩形与所述对象最小外接矩形之间的第二交集部分;
确定所述凸包最小外接矩形与所述对象最小外接矩形之间的并集部分;
利用所述第二交集部分与所述并集部分之间的第二面积比值表征所述第二贴合程度;以及
所述基于所述第一贴合程度和所述第二贴合程度,确定所述置信度,包括:
基于所述第一面积比值和所述第二面积比值,计算所述置信度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于所述第一面积比值和所述第二面积比值,计算所述置信度,包括:
将所述第一面积比值和所述第二面积比值相乘,计算所述置信度。
6.根据权利要求3-5任一项所述的方法,其特征在于,所述对象最小外接矩形通过目标检测算法检测所述待处理图像而在线得到;或者通过对所述目标对象进行标注而离线得到。
7.一种位姿确定方法,其特征在于,包括:
获取估计位姿的置信度;所述置信度通过如权利要求1-6任一项中所述的位姿评价方法计算得到;
在检测到所述置信度满足评价条件时,将所述估计位姿确定为所述目标对象的目标位姿。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述在检测到所述置信度满足评价条件时,将所述估计位姿确定为所述目标对象的目标位姿,包括:
在检测到所述置信度对应的数值大于置信度阈值时,将所述估计位姿确定为所述目标对象的目标位姿。
9.一种位姿评价装置,其特征在于,包括:
第一获取模块,用于获取待处理图像;所述待处理图像包括目标对象的图像;
第二获取模块,用于根据所述待处理图像,获取所述目标对象所对应的目标模型、以及所述目标对象在所述待处理图像的拍摄时刻所对应的估计位姿;
第一确定模块,用于确定所述目标模型在所述估计位姿下投影在所述待处理图像上的投影点的凸包;
计算模块,用于基于所述投影点的凸包以及所述目标对象的图像,计算所述估计位姿的置信度,以根据所述置信度评价所述估计位姿。
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