[发明专利]接触线磨耗检测方法、装置、设备和计算机存储介质在审
| 申请号: | 202110929947.0 | 申请日: | 2021-08-13 |
| 公开(公告)号: | CN113587847A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
| 发明(设计)人: | 毛庆洲;李志明;杨厚昌;李北平;李家喜;郭铭;郑继忠 | 申请(专利权)人: | 武汉汉宁轨道交通技术有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 衡滔 |
| 地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区大学园*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 接触 磨耗 检测 方法 装置 设备 计算机 存储 介质 | ||
1.一种接触线磨耗检测方法,其特征在于,包括:
获取待检测接触线的断面轮廓数据和所述待检测接触线的标准断面轮廓数据;
根据所述待检测接触线的断面轮廓数据和所述待检测接触线的标准断面轮廓数据确定所述待检测接触线的磨耗量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述待检测接触线的断面轮廓数据和所述待检测接触线的标准断面轮廓数据确定所述待检测接触线的磨耗量,包括:
根据所述待检测接触线的断面轮廓数据确定出多个坐标点,组成第一点集;
根据所述第一点集从所述待检测接触线的标准断面轮廓数据中确定出多个坐标点,组成第二点集;其中,每个所述第一点集中的坐标点对应一个所述第二点集中的坐标点;
根据每个所述第一点集中的坐标点和与之对应的所述第二点集中的坐标点的距离确定所述待检测接触线的磨耗量。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取线结构激光扫描仪沿铁道延伸方向移动的过程中扫描的数据;
每当确定所述数据中包括表征所存在的接触线的数量增加的数据时,对所述接触线进行编号。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取线结构激光扫描仪沿铁道延伸方向移动的过程中扫描的数据;
每当确定所述数据中存在表征定位器的数据时,对所述定位器进行编号。
5.一种接触线磨耗检测装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取待检测接触线的断面轮廓数据和所述待检测接触线的标准断面轮廓数据;
确定模块,用于根据所述待检测接触线的断面轮廓数据和所述待检测接触线的标准断面轮廓数据确定所述待检测接触线的磨耗量。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述确定模块具体用于根据所述待检测接触线的断面轮廓数据确定出多个坐标点,组成第一点集;根据所述第一点集从所述待检测接触线的标准断面轮廓数据中确定出多个坐标点,组成第二点集;其中,每个所述第一点集中的坐标点对应一个所述第二点集中的坐标点;根据每个所述第一点集中的坐标点和与之对应的所述第二点集中的坐标点的距离确定所述待检测接触线的磨耗量。
7.根据权利要求5或6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括接触线编号模块,用于获取线结构激光扫描仪沿铁道延伸方向移动的过程中扫描的数据;在确定所述数据中包括表征所存在的接触线的数量增加时,对所述接触线进行编号。
8.根据权利要求5或6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括定位器编号模块,用于获取线结构激光扫描仪沿铁道延伸方向移动的过程中扫描的数据;在确定所述数据中存在表征定位器的数据时,对所述定位器进行编号。
9.一种接触线磨耗检测设备,其特征在于,包括:
线结构激光扫描仪,所述线结构激光扫描仪用于扫描接触线的断面轮廓数据;
控制模块,所述控制模块与所述线结构激光扫描仪连接,用于执行如权利要求1-4中任一项所述的方法。
10.一种计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质上存储有计算机程序指令,所述计算机程序指令被计算机读取并运行时,执行如权利要求1-4中任一项所述的方法。
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