[发明专利]一种电磁铁动作次数寿命检测装置

说明书

本发明公开了一种电磁铁动作次数寿命检测装置，包括感应通道，MCU电路和继电器；感应通道中的检测通道实施感知被电磁铁动铁芯运动情况，每遮挡或触发一次MCU电路计数一次，校准通道为无遮挡光路或接通电源就能输出信号，每通电一次MCU电路计数一次，二者计数值比较，确定一个测试周期内电磁铁失效的次数，若失效次数大于设定的次数或被检电磁铁动作滞后时间值大于设定的时间值，或总的测试次数大于MCU电路设定的次数时，MCU电路令测试停止。本发明通过比差测试确定失效次数，失效次数和滞后时间界定确认电磁铁寿命，思路巧妙，装置简单，制作成本低廉等优点。

技术领域

本发明涉及低压电器领域，特别是一种电磁铁动作次数寿命检测装置。

背景技术

电磁铁，广泛用于电力电子、医疗器材、纺织机械、门锁、航空航天、船舶等行业，是低压或中压电气领域广泛使用的一种机电动作元件。

任何形式的电磁铁，电磁铁之工作(动作)寿命，是电磁铁产品的主要指标，电磁铁寿命，一是能够在额定电压下的动作到位的次数，二是在低于额定电压(如0.8Ue)或高于额定电压(如1.2Ue)下的动作到位的次数，三是在一个定义的测试阶段时间内“卡滞(不能动作或迟缓动作)”次数，四是如何评判同一批次或不同批次的寿命次数等。

如何便利地检测电磁铁的寿命次数，平台易于搭建，检测精度很高，且成本低廉，是个比较复杂的问题。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明提供了一种可以检测电磁铁动寿命次数、卡滞次数的电磁铁动作次数寿命检测装置。

本发明的目的通过以下技术方案实现。

一种电磁铁动作次数寿命检测装置，包括感应通道、MCU电路、继电器或接触器，所述感应通道包括检测通道和校准通道，所述检测通道实时感知电磁铁动铁芯遮挡情况，每遮挡一次MCU电路计数一次，所述校准通道为无遮挡通道，每通电一次MCU电路计数一次，二者计数值比较，确定一个测试周期内电磁铁失效的次数，若失效次数大于设定的次数或被检电磁铁动作滞后时间值大于设定时间值的次数大于设定次数时，MCU电路令测试停止，所述检测通道、校准通道和被检电磁铁接在同一测试电源回路之中，所述MCU电路控制继电器或接触器动作，所述继电器或接触器常开触点的控制测试电源回路的通断。

所述的感应通道包括光电电路或磁性感应电路，所述校准通道每次通电一次发出信号一次，并被MCU电路检测，所述检测通道感知电磁铁动铁芯运动情况，电磁铁每得电一次，动铁芯弹出或缩进一次，或合拍型电磁铁闭合或跳开一次，遮挡检测光路或磁路一次，并被MCU电路检测，所述检测通道包括常开或常闭触点被动铁芯移动到位压迫接通或断开，所述校准通道、检测通道和电磁铁连接于同一测试电源，所述校准通道和检测通道还包括其他能够区分动铁芯运动特征的其他介质。

所述的被检电磁铁是直流电磁铁或交流电磁铁，所述的被检电磁铁是是常规低速电磁铁，或高速电磁铁，所述的被检电磁铁是电磁性电磁铁或永磁型电磁铁，所述的被检电磁铁是直动型电磁铁或合拍型电磁铁，所述的被检电磁铁是能够遮挡光路或磁路和其他介质或具备压迫触点能力的所有电磁铁。

所述的MCU电路包括光敏或磁敏和其他介质敏感接受元件或可转换的触点，含有LCD或LED显示器，MCU电路包括单片机、FPGA、CPLD和其他能够进行逻辑运算的智能处理器，包括USB接口。

所述校准通道既可以与被检电磁铁并联，也可以与被检电磁铁串联。

所述测试电源包括交流或直流电源，所述测试电源电压经受控于MCU电路的继电器触点的通断控制：MCU电路令继电器接通，所述检测通道和校准通道的主动元件和电磁铁得电。