[发明专利]一种电磁铁动作次数寿命检测装置

权利要求书

1.一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：包括感应通道、MCU电路、继电器或接触器，所述感应通道包括检测通道和校准通道，所述检测通道实时感知电磁铁动铁芯遮挡情况，每遮挡一次MCU电路计数一次，所述校准通道为无遮挡通道，每通电一次MCU电路计数一次，二者计数值比较，确定一个测试周期内电磁铁失效的次数，若失效次数大于设定的次数或被检电磁铁动作滞后时间值大于设定时间值的次数大于设定次数时，MCU电路令测试停止，所述检测通道、校准通道和被检电磁铁接在同一测试电源回路之中，所述MCU电路控制继电器或接触器动作，所述继电器或接触器常开触点的控制测试电源回路的通断。

2.根据权利要求1所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述的感应通道包括光电电路或磁性感应电路，所述校准通道每次通电一次发出信号一次，并被MCU电路检测，所述检测通道感知电磁铁动铁芯运动情况，电磁铁每得电一次，动铁芯弹出或缩进一次，或合拍型电磁铁闭合或跳开一次，遮挡检测光路或磁路一次，并被MCU电路检测，所述检测通道包括常开或常闭触点被动铁芯移动到位压迫接通或断开，所述校准通道、检测通道和电磁铁连接于同一测试电源，所述校准通道和检测通道还包括其他能够区分动铁芯运动特征的其他介质。

3.根据权利要求1或2所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述的被检电磁铁是直流电磁铁或交流电磁铁，所述的被检电磁铁是是常规低速电磁铁，或高速电磁铁，所述的被检电磁铁是电磁性电磁铁或永磁型电磁铁，所述的被检电磁铁是直动型电磁铁或合拍型电磁铁，所述的被检电磁铁是能够遮挡光路或磁路和其他介质或具备压迫触点能力的所有电磁铁。

4.根据权利要求3所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述的MCU电路包括光敏或磁敏和其他介质敏感接受元件或可转换的触点，含有LCD或LED显示器，MCU电路包括单片机、FPGA、CPLD和其他能够进行逻辑运算的智能处理器，包括USB接口。

5.根据权利要求1所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述校准通道既可以与被检电磁铁并联，也可以与被检电磁铁串联。

6.根据权利要求2所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述测试电源包括交流或直流电源，所述测试电源电压经受控于MCU电路的继电器触点的通断控制：MCU电路令继电器接通，所述检测通道和校准通道的主动元件和电磁铁得电。

7.根据权利要求1所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述MCU电路与检测通道设于同一电源回路，启动寿命次测试后，MCU电路首先令被检电磁铁得电，分别判断、记录SA和SB信号，若SB失效，表明本次试验失败，若连续多次失败，表明继电器或校准通道被动接收元件故障，测试设备需要维修；若SB有效，记录SB信号一次并显示，紧跟着检测SA信号，并启动时限控制，在定义的时限内，若检测到SA信号，记录SA一次并显示和SB到SA的时延值数据记录在数据存储空间中；若未能检测到SA信号，另外记录当前的SB值，断开继电器，准备下一次检测；MCU电路定义失效次数，若未能检测到SA信号的次数，大于定义的失效次数时，寿命测试装置终止测试；MCU电路定义延时值和延时值次数，若检测到SA信号的延时值次数大于设定值次数时，寿命测试装置终止测试；MCU电路定义总的试验次数，若SB信号的次数大于定义的总的试验次数时，寿命测试装置终止测试。

8.根据权利要求2所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述光电电路采用红外线传感器以避免环境光干扰，发射元件和接受元件尽可能配对使用。

9.根据权利要求1所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述MCU电路设置有启动/停止测试按钮，设置按钮用于设置测试终结数据界限、设置失效次数界限，显示选择按钮，选择显示当前校准通道的次数，显示实际动作次数，显示失误次数，显示各次的动作完成时间，或将这些数据本地打印，或将这些数据通过USB等接口异地处理。

10.根据权利要求1所述的一种电磁铁动作次数寿命检测装置，其特征在于：所述的感应通道包括光电电路MCU电路可受控于PC或手机APP控制。