[发明专利]晶圆加工方法在审

专利信息
申请号: 202110905617.8 申请日: 2021-08-05
公开(公告)号: CN113782420A 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 王瑞瀚;张宾;杨德明 申请(专利权)人: 华虹半导体(无锡)有限公司
主分类号: H01L21/033 分类号: H01L21/033;H01L21/677
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 罗雅文
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 加工 方法
【权利要求书】:

1.一种晶圆加工方法,其特征在于,所述方法包括:

将立式炉管机台的装载区环境设置为含氧环境;

将晶圆传输至所述立式炉管机台;

通过所述立式炉管机台在所述晶圆上形成氮化硅薄膜;

将形成有氮化硅薄膜的晶圆传输至所述装载区。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述形成有氮化硅薄膜的晶圆传输至所述装载区,包括:

控制所述形成有氮化硅薄膜的晶圆,按预定速度从所述立式炉管机台的反应腔室移动至所述装载区。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述预定速度小于200mm/min。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述将立式炉管机台的装载区环境设置为含氧气环境,包括:

向所述立式炉管机台的装载区内通入氧气或含氧气体。

5.根据权利要求1或4所述的方法,其特征在于,所述装载区环境的氧气浓度为100000-250000ppm。

6.根据权利要求1至5任一所述的方法,其特征在于,所述晶圆放置在晶舟上。

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