[发明专利]一种分段式大豆劣变耐性鉴定方法及其应用

权利要求书

1.一种分段式大豆劣变耐性鉴定方法，其特征在于，包括：

（1）选择劣变处理表现稳定的大豆品种D1和D2做公共对照；

（2）将待鉴定材料和公共对照D1一同进行T5处理；T5处理为在温度为45℃、相对湿度为85%的老化箱中老化处理5天；

（3）将步骤（2）处理后的材料用标准发芽法进行发芽试验；

（4）发芽结束后统计待鉴定材料和公共对照材料的正常芽数、轻度损伤芽数、损伤芽数和严重损伤芽数，并计算各材料的正常芽率、轻度损伤率、损伤率和严重损伤率，然后按照综合发芽力计算公式计算待鉴定材料经过T5处理后的综合发芽力值V5；

其中，所述综合发芽力计算公式为：V=正常芽率+90%*轻度损伤率+60%*损伤率+20%*严重损伤率；

（51）若公共对照材料D1的综合发芽力值超过误差范围，则待鉴定材料的综合发芽力值作废；

（52）若公共对照材料D1的综合发芽力值在误差范围内，且待鉴定材料的综合发芽力值0＜V5≤90%，则根据鉴定材料的综合发芽力值V5确定耐劣变等级；

（53）若公共对照材料D1的综合发芽力值在误差范围内，且待鉴定材料的综合发芽力值V5＞90%，则把该材料连同公共对照材料D2进行T8处理，T8处理为在温度为45℃、相对湿度为85%的老化箱中老化处理8天；然后计算待鉴定材料经过T8处理后的综合发芽力值V8；

（531）若公共对照材料D2的综合发芽力值超过误差范围，则待鉴定材料的综合发芽力值作废；

（532）若公共对照材料D2的综合发芽力值在误差范围内，且待鉴定材料的综合发芽力值0＜V8≤90%，则根据鉴定材料的综合发芽力值V8确定耐劣变等级；

（533）若公共对照材料D2的综合发芽力值在误差范围内，且待鉴定材料的综合发芽力值V8＞90%，则把该材料连同公共对照材料D2进行T11处理，并计算待鉴定材料经过T11处理后的综合发芽力值V11；T11处理为在温度为45℃、相对湿度为85%的老化箱中老化处理11天；

若公共对照材料D2的综合发芽力值超过误差范围，则待鉴定材料的综合发芽力值作废；

若公共对照材料D2的综合发芽力值在误差范围内，且待鉴定材料的综合发芽力值0＜V11≤90%，则根据鉴定材料的综合发芽力值V11确定耐劣变等级；

（54）若公共对照材料D1的综合发芽力值在误差范围内，且待鉴定材料的综合发芽力值V5=0，则把该材料连同公共对照材料D1进行T2处理，T2处理为在温度为45℃、相对湿度为85%的老化箱中老化处理2天；然后统计待鉴定材料经过T2处理后的综合发芽力值V2；

若公共对照材料D1的综合发芽力值超过误差范围，则待鉴定材料的综合发芽力值作废；

若公共对照材料D1的综合发芽力值在误差范围内，且待鉴定材料的综合发芽力值0＜V2≤90%，则根据鉴定材料的综合发芽力值V2确定耐劣变等级；

耐劣变等级分为16个等级，大豆材料经过T2处理后的综合发芽力值V2占4个等级，大豆材料经过T5处理后的综合发芽力值V5占4个等级，大豆材料经过T8处理后的综合发芽力值V8占4个等级，大豆材料经过T11处理后的综合发芽力值V11占4个等级，具体的：

0＜V2≤25，耐劣变等级R为-4级；

25＜V2≤50，耐劣变等级R为-3级；

50＜V2≤75，耐劣变等级R为-2级；

75＜V2≤90，耐劣变等级R为-1级；

0＜V5≤25，耐劣变等级R为0级；

25＜V5≤50，耐劣变等级R为1级；

50＜V5≤75，耐劣变等级R为2级；

75＜V5≤90，耐劣变等级R为3级；

0＜V8≤25，耐劣变等级R为4级；

25＜V8≤50，耐劣变等级R为5级；

50＜V8≤75，耐劣变等级R为6级；

75＜V8≤90，耐劣变等级R为7级；

0＜V11≤25，耐劣变等级R为8级；

25＜V11≤50，耐劣变等级R为9级；

50＜V11≤75，耐劣变等级R为10级；

75＜V11≤90，耐劣变等级R为11级；

大豆材料的发芽分类如下：

正常芽数：子叶、根、外观正常且生长点完好，且根生长正常的大豆芽的个数；

轻度损伤芽数：生长点完好，且子叶、根损伤程度≤20%，即子叶有轻微坏斑点，即坏斑面积≤20%，或者根未出现明显畸形，或轻微畸形的大豆芽数；

损伤芽数：生长点完好，但子叶和根损伤较严重，20%＜子叶和根损伤程度≤60%，即叶片：20%＜坏斑面积≤60%，或者根严重畸形的大豆芽数；

严重损伤芽数：种子能萌动，生长点坏死或者严重损伤，60%＜子叶和根损伤程度＜100%，即子叶严重损伤： 60%＜坏斑面积＜100%,或者下胚轴不能发育成根的大豆芽数；

正常芽率=正常芽数×100%/发芽总籽粒数；

轻度损伤率=轻度损伤芽数×100%/发芽总籽粒数；

损伤率=损伤芽数×100%/发芽总籽粒数；

严重损伤率=严重损伤芽数×100%/发芽总籽粒数；

公共对照材料D1选择桂夏1号,公共对照材料D2选择桂1607号；

公共对照材料D1的误差范围为已知值±5.12；

公共对照材料D2的误差范围为已知值±4.42。