[发明专利]卡槽检测方法、装置和存储介质

权利要求书

1.一种卡槽检测方法，其特征在于，所述方法包括：

采集待检测卡槽的工件图片；

将所述工件图片变换为二值化模板的图片位置；

在变换后的所述工件图片中根据所述二值化模板的图片位置提取所述卡槽的检测区域；

在所述检测区域中检测所述卡槽的缺陷区域，并在所述工件图片中标记检测得到的所述缺陷区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述工件图片变换为二值化模板的图片位置，包括：

在所述工件图片和所述二值化模板中选择相同特征区域的一对匹配点；

根据所述匹配点将所述工件图片进行旋转和平移，得到变换后的所述工件图片。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述工件图片变换为二值化模板的图片位置，包括：

提取所述二值化模板的第一相对坐标点和第一角度；

提取所述工件图片的第二相对坐标点和第二角度；

根据所述第一角度和所述第二角度，计算旋转变换矩阵；

根据所述第一相对坐标、所述第二相对坐标计算平移变换矩阵；

根据所述旋转矩阵旋转变换矩阵和所述平移转换矩阵将所述工件图片变换为二值化模板的图片位置。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第一角度和所述第二角度，计算旋转变换矩阵，包括：

设所述第一角度为θ₀、所述第二角度为θ₁，则所述旋转变换矩阵T_θ为：

其中，θ＝θ₀-θ₁。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一相对坐标、所述第二相对坐标计算平移变换矩阵，包括：

设所述第一相对坐标为Q₀(x₀,y₀)，所述第二相对坐标为Q₁(x₁,y₁)，则所述平变换矩阵T为：

其中，

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在变换后的所述工件图片中根据所述二值化模板的图片位置提取所述卡槽的检测区域，包括：

对所述二值化模板进行区域分割，得到多个相互独立的子区域；

对分割得到所述多个子区域进行特征筛选，得到所需检测的子区域；

根据筛选得到的所述所需检测的子区域提取所述工件图片的灰度值，进而提取得到所述卡槽的所述检测区域。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述检测区域中检测所述卡槽的缺陷区域，并在所述工件图片中标记检测得到的所述缺陷区域，包括：

通过预设定位方式对所述检测区域进行精定位，所述预设定位方式包括二值化特征提取、形态学分析、区域填充和区域筛选；

在精定位后的所述检测区域中检测所述卡槽的缺陷区域，并在所述工件图片中标记检测得到的所述缺陷区域。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述在精定位后的所述检测区域中检测所述卡槽的缺陷区域，包括：

在精定位后的所述检测区域中提取所述卡槽的外轮廓；

对提取到的所述外轮廓进行分割，并提取所述外轮廓的左右边线；

将所述左右边线相连接得到目标检测区域；

将所述目标检测区域与精定位后的所述检测区域进行对比，得到所述卡槽的缺陷区域。

9.一种卡槽检测装置，其特征在于，所述装置包括存储器和处理器，所述存储器中存储有至少一条程序指令，所述处理器通过加载并执行所述至少一条程序指令以实现如权利要求1至8任一所述的方法。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质中存储有至少一条程序指令，所述至少一条程序指令被处理器加载并执行以实现如权利要求1至8任一所述的方法。