[发明专利]一种双制式轨检机构

权利要求书

1.一种双制式轨检机构，用于测量轨道的几何参数，所述轨道包括米轨及标准轨，其特征在于，所述双制式轨检机构包括：

机构主体；

控制装置，设于所述机构主体上，用于记录测量数据；

轨检装置，设于所述机构主体的一侧，与所述机构主体所适配时用于测量所述标准轨；

其中，所述轨检装置包括轨检组件以及连接所述轨检组件与所述机构主体的连接组件，所述轨检组件与所述连接组件呈直角设置、且组成T型结构，所述轨检组件及所述连接组件均能与所述机构主体连接，当所述轨检组件与所述机构主体连接时，所述双制式轨检机构用于测量所述米轨。

2.根据权利要求1所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述机构主体与所述连接组件朝向所述轨检组件的一侧均设有连接件，所述轨检组件及所述连接组件朝向所述机构主体的一侧均设有与所述连接件对应的固定件。

3.根据权利要求2所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述连接件包括连接套以及分设于所述连接套两端的锁紧结构，所述锁紧结构包括手轮以及设于所述手轮上的锁紧螺栓，所述手轮用于带动所述锁紧螺栓旋转。

4.根据权利要求3所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述固定件包括定位套，所述定位套的两端设有与所述锁紧螺栓对应的锁紧螺孔，当所述锁紧螺栓穿过所述连接套固定于所述锁紧螺孔时，旋转所述手轮带动所述锁紧螺栓与所述锁紧螺孔螺纹连接，以使所述连接件与所述固定件锁紧。

5.根据权利要求4所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述连接件的中部还设有插接公座，所述固定件上设有与所述插接公座对应的插接母座，当所述连接件与所述固定件锁紧时，所述插接公座与所述插接母座插接。

6.根据权利要求1所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述机构主体朝向所述轨道的一端以及所述轨检组件的两端均设有行走轮组，所述行走轮组推动所述双制式轨检机构在所述轨道的轨面上行走。

7.根据权利要求6所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述行走轮组包括行走轮、连接所述轨道与所述行走轮的测量轮以及连接所述行走轮与所述测量轮的传感器，当所述双制式轨检机构执行测量时，所述行走轮在所述轨面上滚动配合，所述测量轮与所述轨道的内壁滚动配合，所述传感器用于测量所述测量轮的位移量。

8.根据权利要求1所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述控制装置包括控制设备以及连接所述控制设备与所述机构主体的推杆，所述推杆与所述机构主体活动连接。

9.根据权利要求1所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述机构主体与所述轨检组件内均设有用于容纳测量所述轨道的电子元件的容置空间。

10.根据权利要求1所述的双制式轨检机构，其特征在于，所述机构主体与所述轨检装置上均设有多个手提结构。