[发明专利]一种电池涂胶缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种电池涂胶缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括以下步骤：获取一待测涂胶横截面的采样点云，构成采样点集；获取邻近于待测涂胶横截面的若干涂胶横截面中的参考点云，构成若干标准点集，并以若干标准点集构成标准模板；基于动态时间规整算法计算待测涂胶横截面与标准模板之间的相似度信息；根据相似度信息判断待测涂胶横截面是否存在涂胶缺陷；该方法利用动态时间规整算法计算获取待测涂胶横截面的采集点云和邻近涂胶横截面的参考点云的相似度信息，根据相似度信息快速筛选确定涂胶缺陷的存在，该检测方法效率高、精度高，且不依赖于特定的形态、数值、材质、环境、样板进行分析，具有适用性范围广的特点。

技术领域

本申请涉及电池检测技术领域，具体而言，涉及一种电池涂胶缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在手机等电池涂胶及检测工艺中，电池涂胶是电池生产中极其重要的一环，确保胶粘剂和密封胶精确、均匀分布，有助于延长电池的使用寿命。

电池涂胶常见的缺陷有：溢胶、胶洞和胶的填充不饱和，通过涂胶缺陷检测技术进行及时的反馈，能够有效改善涂胶缺陷检测的准确率，提高检测质量的效率。

现有涂胶缺陷检测技术一般采用图像处理配合人工判读的方式进行，人工判读较为主观不稳定、误检率高，且图像处理的方案容易受到环境光线强弱、颜色和胶本体颜色等外部影响，导致检测效果不稳定。

因而，市面上产生利用激光点云从横截面进行处理的方案，但现有基于激光点云从横截面进行判断的方案，其判断过程冗余判断和计算较多，需要通过计算获取高度、面积、密度等数据，运算过程繁琐。

针对上述问题，目前尚未有有效的技术解决方案。

发明内容

本申请的目的在于提供一种电池涂胶缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，以提高电池涂胶缺陷检测的效率、精度，简化缺陷获取过程。

第一方面，本申请提供一种电池涂胶缺陷检测方法，用于检测电池涂胶缺陷，所述方法包括以下步骤：

S1、获取一待测涂胶横截面的采样点云，构成采样点集；

S2、获取邻近于所述待测涂胶横截面的若干涂胶横截面中的参考点云，构成若干标准点集，并以若干标准点集构成标准模板；

S3、基于动态时间规整算法计算待测涂胶横截面与标准模板之间的相似度信息；

S4、根据所述相似度信息判断待测涂胶横截面是否存在涂胶缺陷。

本申请的一种电池涂胶缺陷检测方法，基于待测涂胶横截面的采集点云和邻近涂胶横截面的参考点云利用动态时间规整算法进行计算比较，可简单、快捷、精确地获取待测涂胶横截面与邻近涂胶横截面的相似度，进而快速筛选确定涂胶缺陷的存在，该检测方法效率高、精度高，且不依赖于特定的形态、数值、材质、环境、样板进行分析，具有适用性范围广的特点。

所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其中，步骤S2中，涂胶横截面的数量基于重复拍照的精度进行调整。

所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其中，步骤S3包括以下子步骤：

S31、运用动态时间规整算法分别计算采样点集邻近的若干标准点集中每个参考点云与采样点集之间的最小距离信息；

S32、对所有最小距离信息进行加权平均，获得所述相似度信息。

所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其中，所述采样点云和所述参考点云均为激光点云。

所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其中，步骤S2中，邻近于所述待测涂胶横截面的若干涂胶横截面为沿涂胶方向等距确定。