[发明专利]一种电池涂胶缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种电池涂胶缺陷检测方法，用于检测电池涂胶缺陷，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

S1、获取一待测涂胶横截面的采样点云，构成采样点集；

S2、获取邻近于所述待测涂胶横截面的多个涂胶横截面中的参考点云，构成若干标准点集，并以若干标准点集构成标准模板，邻近于所述待测涂胶横截面的多个涂胶横截面为沿涂胶方向等距确定，所述参考点云为邻近于所述待测涂胶横截面的多个等距设置的且相互平行的涂胶横截面中的点云数据；

S3、基于动态时间规整算法计算待测涂胶横截面与标准模板之间的相似度信息；

S4、根据所述相似度信息判断待测涂胶横截面是否存在涂胶缺陷。

2.根据权利要求1所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其特征在于，步骤S2中，涂胶横截面的数量基于重复拍照的精度进行调整。

3.根据权利要求1所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其特征在于，步骤S3包括以下子步骤：

S31、运用动态时间规整算法分别计算采样点集邻近的若干标准点集中每个参考点云与采样点集之间的最小距离信息；

S32、对所有最小距离信息进行加权平均，权重分配按照中间大，两边小的原则设置，获得所述相似度信息。

4.根据权利要求1所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其特征在于，所述采样点云和所述参考点云均为激光点云。

5.根据权利要求1所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其特征在于，步骤S4基于SVM分类器判断待测涂胶横截面是否存在缺陷或基于设置相似度阈值判断待测涂胶横截面是否存在缺陷。

6.根据权利要求1所述的一种电池涂胶缺陷检测方法，其特征在于，获取的采样点云和参考点云均要进行去噪处理。

7.一种电池涂胶缺陷检测装置，用于检测电池涂胶缺陷，其特征在于，包括：

采样模块，用于获取一待测涂胶横截面的采样点云，构成采样点集；

参考模块，用于获取邻近于所述待测涂胶横截面的多个涂胶横截面中的参考点云，构成若干标准点集，并以若干标准点集构成标准模板，邻近于所述待测涂胶横截面的多个涂胶横截面为沿涂胶方向等距确定，所述参考点云为邻近于所述待测涂胶横截面的多个等距设置的且相互平行的涂胶横截面中的点云数据；

计算比较模块，用于基于动态时间规整算法计算待测涂胶横截面与标准模板之间的相似度信息；

判断模块，用于根据所述相似度信息判断待测涂胶横截面是否存在涂胶缺陷。

8.一种电子设备，其特征在于，包括处理器以及存储器，所述存储器存储有计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器执行时，运行如权利要求1-6任一所述方法中的步骤。

9.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时运行如权利要求1-6任一所述方法中的步骤。