[发明专利]一种锰锌铁氧体薄膜制备方法有效
申请号: | 202110842330.5 | 申请日: | 2021-07-26 |
公开(公告)号: | CN113584447B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 赵宇飞;唐少春;吴阳 | 申请(专利权)人: | 海安南京大学高新技术研究院;南京大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08;C23C14/58 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 铁氧体 薄膜 制备 方法 | ||
本发明公开了一种锰锌铁氧体薄膜制备方法,所得锰锌铁氧体薄膜具有尺寸小、可加工、饱和磁化强度高,矫顽力低的优点。主要步骤为:以单晶硅片为衬底,加热后,依次以Fe2O3、ZnO、MnO2为靶材,进行真空射频磁控溅射镀膜;真空高温烧结后,以之为衬底,加热后,依次以CaO、SiO2、Nb2O5、ZrO2、SnO2、TiO2、V2O5、P2O5、Ni2O3、Co2O3、MoO3、Ta2O5、Bi2O3中的三种及以上为靶材,进行射频磁控溅射镀膜掺杂;真空退火后,得到锰锌铁氧体薄膜。
技术领域
本发明涉及磁控溅射制备锰锌铁氧体薄膜领域。
背景技术
以铁硅合金及各种铁氧体为代表的软磁材料,具有高饱和磁化强度和低矫顽力的特点,广泛应用于电工设备和电子设备。锰锌铁氧体因具有高的起始磁导率和低功率损耗,成为产量最高的软磁材料。
目前,锰锌铁氧体的生产方式多为块状材料烧结形成,加工性能较差,制约了进一步应用。当前电子元器件发展趋势为小型化、高频化、集成化,对磁性材料的尺寸、高频特性提出更高要求。
发明内容
本发明克服以上缺点,提供了一种锰锌铁氧体薄膜制备方法,其特征在于,包括:
A、以单晶硅片为衬底,加热至100~400℃,以Fe2O3为靶材,抽真空后,冲入保护气,气压为0.5Pa~2.5Pa的环境中进行射频磁控溅射镀膜;
B、以步骤A得到的薄膜为衬底,加热至100~400℃,以ZnO为靶材,抽真空后,冲入保护气,气压为0.5Pa~2.5Pa的环境中进行射频磁控溅射镀膜;
C、以步骤B得到的薄膜为衬底,加热至100~400℃,以MnO2为靶材,抽真空后,冲入保护气,气压为0.5Pa~2.5Pa的环境中进行射频磁控溅射镀膜;
D、将步骤C得到的薄膜置于真空炉内,温度1000~1400℃,氧气气压为5Pa~30Pa环境下烧结,并冷却至室温;
E、以步骤D得到的薄膜为衬底,加热至100~400℃,依次以CaO、SiO2 、Nb2O5、ZrO2、SnO2、TiO2、V2O5、P2O5、Ni2O3、Co2O3、MoO3、Ta2O5、Bi2O3中的三种及以上为靶材,进行掺杂,抽真空后,冲入保护气,气压为0.5Pa~2.5Pa的环境中进行射频磁控溅射镀膜;
F、将步骤E得到的薄膜置于真空炉内,温度400~600℃,氧气气压为5Pa~30Pa环境下退火,并冷却至室温,得到锰锌铁氧体薄膜。
本发明一种锰锌铁氧体薄膜制备方法的进一步改进在于,所述保护气为氩气。
本发明一种锰锌铁氧体薄膜制备方法的进一步改进在于,所述以Fe2O3为靶材射频磁控溅射镀膜时间为2~10分钟。
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