[发明专利]光自旋霍尔效应传感器及其设备有效
| 申请号： | 202110841078.6 | 申请日： | 2021-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN113281269B | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 郑之伟;罗凤志;蒋乐勇;戴小玉;项元江 | 申请（专利权）人： | 湖南师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛娇 |
| 地址： | 410006 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自旋 霍尔 效应 传感器 及其 设备 | ||
【权利要求书】：
1.一种光自旋霍尔效应传感器，其特征在于，包括：透光元件，贴合所述透光元件从上到下依次设置银层、金层、石墨烯层，以及贴合所述石墨烯层设置的锑烯层；
其中，所述锑烯层背离所述石墨烯层的一侧用于贴合放置待测物；
所述金层的厚度为10nm~25nm。
2.如权利要求1所述的光自旋霍尔效应传感器，其特征在于，所述锑烯层的厚度为0.4nm~0.6nm。
3.如权利要求1所述的光自旋霍尔效应传感器，其特征在于，所述石墨烯层的厚度为0.3nm~0.4nm。
4.如权利要求1所述的光自旋霍尔效应传感器，其特征在于，所述银层的厚度为30nm~45 nm。
5.如权利要求1所述的光自旋霍尔效应传感器，其特征在于，所述透光元件为三棱镜或半圆柱棱镜。
6.一种光自旋霍尔效应传感器设备，其特征在于，包括如权利要求1至5任一项所述的光自旋霍尔效应传感器、光源、偏振器、透镜和检测器；
所述光源用于通过所述偏振器向所述光自旋霍尔效应传感器的透光元件入射测试光线；
所述检测器用于通过所述透镜检测所述测试光线经过所述透光元件依次经过银层、金层、石墨烯层、锑烯层至所述待测物后反射并从所述透光元件输出后的光线。
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