[发明专利]一种基于PCR扩增和CRISPR-Cas12a的核酸检测方法及应用有效
| 申请号: | 202110839859.1 | 申请日: | 2021-07-23 |
| 公开(公告)号: | CN113388691B | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
| 发明(设计)人: | 李振军;邱小彤;徐帅 | 申请(专利权)人: | 中国疾病预防控制中心传染病预防控制所 |
| 主分类号: | C12Q1/689 | 分类号: | C12Q1/689;C12Q1/686;C12Q1/04;C12R1/365 |
| 代理公司: | 北京市众天律师事务所 11478 | 代理人: | 李新军 |
| 地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 pcr 扩增 crispr cas12a 核酸 检测 方法 应用 | ||
本发明公开了一种基于CRISPR‑Cas12a的核酸检测方法及应用。本方法通过在PCR上游引物的5’端或者下游引物的3’端修饰前间区序列邻近基序(PAM)序列,以实现可以用基于CRISPR‑Cas12a的方法检测任意核酸片段,即使目的片段中不含PAM序列。所述核酸检测平台可用于鉴定鼻疽诺卡菌,具有检测简单、方便、特异性高的特点。
技术领域
本发明公开了一种基于PCR扩增和CRISPR-Cas12a的核酸检测方法,属于分子生物学和微生物学领域。
背景技术
由规律成簇的间隔短回文重复序列(clustered regularly interspaced shortpalindromic repeats,CRISPR)和CRISPR相关蛋白(CRISPR-associated protein,Cas蛋白)组成的CRISPR-Cas系统被认为是古菌和细菌的适应性免疫系统。CRISPR-Cas系统不仅应用于基因编辑,而且成为核酸检测的一种有吸引力的工具,显示了下一代分子诊断方法的巨大潜力。2018年,Chen等人报道了他们的发现,当Cas12a蛋白以序列特异的方式切割双链DNA(dsDNA)时,诱导了强大的非特异性单链DNA(ssDNA)反式切割。研究人员利用Cas12a蛋白的反式切割活性建立了DETECTR(DNA Endonuclease-Targeted CRISPR Trans–Reporter)检测方法,该方法能够检测临床标本中与癌症相关的HPV 16型和18型。然而,Cas12a蛋白反式切割活性的释放依赖于靶标序列上的前间区序列邻近基序(PAM)序列(TTTN),即只有当其识别到PAM序列时,才能发挥反式切割活性。由于要检测的靶标序列不一定含有合适的PAM序列,这因此限制了CRISPR-Cas12a在核酸检测中的应用。
诺卡菌病是由诺卡菌属细菌引起的一种疾病,通常包括急性或慢性肺部感染。诺卡菌病通常是由吸入或皮肤黏膜损伤感染诺卡菌而造成的,是一种罕见的感染,严重者可能危及生命。诺卡菌病的症状与肺结核相似,如发烧、咳嗽和胸痛。鼻疽诺卡菌(Nocardiafarcinica,N.farcinica)是引起诺卡菌病最常见的病原之一,其与分枝杆菌在形态学上极为相似,容易混淆,从而导致误诊。对于许多诺卡菌病患者来说,误诊或可导致疾病的延误和错误治疗,从而提高了病死率。此外,诺卡菌暂无合适的选择性培养基,因此分离培养所需时间长(2~14天),易造成延误治疗。基于现有技术存在的问题,本技术领域迫切需要一种充分应用CRISPR-Cas12a技术,能够简便、快速、准确地检测核酸标本的方法,进而需要一种应用该方法原理检测鼻疽诺卡菌核酸的方法。
发明内容
基于现有技术存在的问题,本发明的目的就是建立一种新的基于CRISPR-Cas12a的核酸检测方法,命名为CRISPR-Pa(CRISPR/Cas12a combined PCR amplification)。该方法将聚合酶链扩增反应(PCR)与CRISPR-Cas12a检测相结合,通过在聚合酶链扩增反应的上游扩增引物5’端或者下游引物的3’端修饰PAM序列(TTTA),并在其上添加一个A碱基对PAM序列进行保护,以实现可以检测任意序列的目的。CRISPR-Pa作为一种新的核酸检测方法,将能够广泛应用于生物相关领域,实现核酸的快速扩增和检测。
基于上述目的,本发明首先提供了一种基于非诊断目的应用CRISPR-Cas12a技术检测核酸的方法,所述方法包括以下步骤
(1)以样本中的核酸作为模板进行聚合酶链扩增反应,其中,所述聚合酶链扩增反应使用的上游引物的5’端或者下游引物的3’端加入了PAM位点的修饰;
(2)使用步骤(1)获取的聚合酶链扩增反应产物,Cas12a蛋白、荧光基团和荧光淬灭基团双标记的单链DNA探针,以及crRNA分子在CRISPR-Cas12a技术检测体系里反应;
(3)对步骤(2)的反应体系进行荧光强度的检测。
在一个优选的技术方案中,步骤(1)所述的PAM位点的修饰序列如SEQ ID NO.1所示。
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