[发明专利]多个存储器装置的交错刷新地址计数器以及相关方法、装置和系统有效
| 申请号: | 202110804574.4 | 申请日: | 2021-07-16 |
| 公开(公告)号: | CN114067876B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
| 发明(设计)人: | C·G·维杜威特;J·S·雷赫迈耶 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
| 主分类号: | G11C11/406 | 分类号: | G11C11/406 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 彭晓文 |
| 地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 存储器 装置 交错 刷新 地址 计数器 以及 相关 方法 系统 | ||
1.一种方法,包括:
调整一列内的多个存储器装置中的至少一个存储器装置的刷新地址计数器的计数,使得所述至少一个存储器装置的所述刷新地址计数器的所述计数偏离所述列内的所述多个存储器装置中的至少一个其它存储器装置的刷新地址计数器的计数;
在所述多个存储器装置的每一个处接收刷新命令;以及
在所述多个存储器装置的每一个处刷新由相关联的刷新地址计数器的计数指示的至少一行存储器单元。
2.根据权利要求1所述的方法,其中调整所述计数包括调整所述多个存储器装置中的多于一个存储器装置的刷新地址计数器的计数,使得每个存储器装置的刷新地址计数器的计数偏离所述多个存储器装置中的每个其它存储器装置的刷新地址计数器的计数。
3.根据权利要求1所述的方法,进一步包括响应于刷新所述一行存储器单元,增加所述多个存储器装置中的每个存储器装置的刷新地址计数器的计数。
4.根据权利要求1所述的方法,其中调整所述至少一个存储器装置的所述刷新地址计数器的所述计数包括调整所述多个存储器装置中的多于一个存储器装置的刷新地址计数器的计数,使得所述多个存储器装置中的所述至少一个存储器装置的所述刷新地址计数器的所述计数与所述多个存储器装置中的至少一个其它存储器装置的刷新地址计数器的计数偏移相同的量。
5.根据权利要求1所述的方法,其中调整所述计数包括响应于启动或重启操作来调整所述至少一个存储器装置的初始计数地址。
6.根据权利要求1所述的方法,进一步包括在所述多个存储器装置的每一个处对一或多个熔丝设置进行编程。
7.根据权利要求6所述的方法,其中调整包括基于所述一或多个熔丝设置,在所述多个存储器装置的每一个处调整相关联的刷新地址计数器的初始计数地址。
8.一种方法,包括
在共享刷新命令总线的多个存储器装置的每一个处接收刷新命令;
对于所述多个存储器装置中的每一个,识别由所述存储器装置的刷新地址计数器的值指示的所述存储器装置的一行存储器单元,其中所述多个存储器装置中的第一存储器装置的刷新地址计数器的值偏离所述多个存储器装置中的至少一个其它存储器装置的刷新地址计数器的值;以及
在所述多个存储器装置的每一个处刷新所述一行识别的存储器单元。
9.根据权利要求8所述的方法,进一步包括调整所述多个存储器装置中的所述第一存储器装置的所述刷新地址计数器的所述值,使得所述刷新地址计数器的所述值偏离所述多个存储器装置中的至少一个其它存储器装置的刷新地址计数器的值。
10.根据权利要求8所述的方法,进一步包括调整所述多个存储器装置中的一或多个附加存储器装置的刷新地址计数器的值,使得每个存储器装置的刷新地址计数器的值偏离所述多个存储器装置中的每个其它存储器装置的刷新地址计数器的计数。
11.根据权利要求8所述的方法,进一步包括至少在所述第一存储器装置处设置一或多个熔丝,使得所述第一存储器装置的所述刷新地址计数器的所述值偏离至少一个其它存储器装置的刷新地址计数器的值。
12.一种存储器模块,包括:
一列的多个存储器装置,其中所述列的所述多个存储器装置中的每个存储器装置包含:
存储器单元阵列;
具有索引的刷新地址计数器,其中所述列的每个存储器装置包含对于所述列唯一的索引;以及
控制器,所述控制器耦合到所述刷新地址计数器,并且被配置为响应于接收到刷新命令,基于所述刷新地址计数器的所述索引来刷新所述存储器单元阵列的一行。
13.根据权利要求12所述的存储器模块,其中所述控制器被进一步配置为基于一或多个熔丝设置来调整所述多个存储器装置中的一或多个存储器装置的索引。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110804574.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:薄膜材料粘贴装置和薄膜材料粘贴方法
- 下一篇:质谱分析方法





