[发明专利]通过存储器装置的高应力陈化处理进行可靠的健康预测

说明书

本申请涉及通过存储器装置的高应力陈化处理进行可靠性健康预测。加速陈化处理循环准则与若干存储器裸片中的存储器裸片相关联。所述存储器裸片在加速陈化处理循环期间经历一或多个加速陈化处理条件。响应于确定已经满足所述加速陈化处理循环准则，在所述存储器裸片上执行缺陷扫描。鉴于所述缺陷扫描的结果使所述存储器裸片与多个可靠性分区中的相应可靠性分区相关联，其中所述缺陷扫描的所述结果满足对应于所述相应可靠性分区的一或多个预定阈值可靠性准则。

技术领域

本公开的实施例大体上涉及一种存储器子系统，且更确切地说涉及预测存储器子系统中的存储器装置的预期可靠性。

背景技术

存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说，主机系统可以利用存储器子系统以在存储器装置处存储数据且从存储器装置检索数据。

发明内容

在一个方面中，本申请提供一种方法，其包括：使加速陈化处理循环准则与多个存储器裸片中的存储器裸片相关联；在加速陈化处理循环期间使存储器裸片经历一或多个加速陈化处理条件；响应于由处理装置确定已经满足加速陈化处理循环准则，在存储器裸片上执行缺陷扫描；以及由处理装置鉴于缺陷扫描的结果使存储器裸片与多个可靠性分区中的相应可靠性分区相关联，其中缺陷扫描的结果满足对应于相应可靠性分区的一或多个预定阈值可靠性准则。

在另一方面中，本申请提供一种系统，所述系统包括：测试设置，其包括多个存储器裸片；以及处理装置，其以操作方式耦合到所述多个存储器裸片，以针对所述多个存储器裸片中的每一个执行筛选操作，所述筛选操作包括：预先确定加速陈化处理测试期间的多个检查点，其中所述多个检查点的每一检查点对应于循环阈值准则；确定存储器裸片上执行的加速陈化处理循环的数目是否满足第一检查点的循环阈值准则；响应于确定加速陈化处理循环的数目满足第一检查点的循环阈值准则，确定与存储器裸片相关联的错误率；确定所述错误率是否满足特定针对预定可靠性额定值的错误阈值准则；以及响应于确定错误率满足错误阈值准则，重复筛选操作直至满足下一检查点的循环阈值准则。

在另一方面中，本申请提供一种包括指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令当由处理装置执行时致使所述处理装置执行操作，包括：使加速陈化处理循环准则与多个存储器裸片中的存储器裸片相关联；在加速陈化处理循环期间使存储器裸片经历一或多个加速陈化处理条件；响应于由处理装置确定已经满足加速陈化处理循环准则，在存储器裸片上执行缺陷扫描；以及由处理装置鉴于缺陷扫描的结果使存储器裸片与多个可靠性分区中的相应可靠性分区相关联，其中缺陷扫描的结果满足对应于相应可靠性分区的一或多个预定阈值可靠性准则。

附图说明

根据下文给出的详细描述和本公开的各种实施方案的附图，将更充分地理解本公开。

图1示出根据本公开的一些实施例的包含与存储器子系统耦合的主机系统的实例计算系统。

图2示出根据本公开的一些实施例的置位和复位条件中的存储器单元的电压电平以及相对于参考电压的相应置位和复位容限。

图3示出根据本公开的一些实施例的在正常操作条件下具有增加数目的写入循环的置位和复位容限的降级的裸片级变化。

图4示出根据本公开的一些实施例的基于加速陈化处理循环的裸片筛选的实例方法的流程图。

图5A示出根据本公开的一些实施例的加速陈化处理循环的电压脉冲构形。

图5B示出根据本公开的一些实施例在正常操作条件下和加速陈化处理条件下的写入循环的数目之间的对应关系。

图6示出根据本公开的一些实施例的基于用于错误数据收集的高温和低温测试的裸片分类的实例方法的流程图。

图7示出根据本公开的一些实施例设置错误阈值准则来限定可靠性分区。