[发明专利]通过存储器装置的高应力陈化处理进行可靠的健康预测

权利要求书

1.一种方法，其包括：

使加速陈化处理循环准则与多个存储器裸片中的存储器裸片相关联；

在加速陈化处理循环期间使所述存储器裸片经历一或多个加速陈化处理条件；

响应于由处理装置确定已经满足所述加速陈化处理循环准则，在所述存储器裸片上执行缺陷扫描；以及

由所述处理装置鉴于所述缺陷扫描的结果使所述存储器裸片与多个可靠性分区中的相应可靠性分区相关联，其中所述缺陷扫描的所述结果满足对应于所述相应可靠性分区的一或多个预定阈值可靠性准则。

2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

从所述相应可靠性分区选择一或多个存储器裸片以组装具有预定可靠性额定值的存储器装置。

3.根据权利要求1所述的方法，其中使所述存储器裸片经历一或多个加速陈化处理条件包括在所述加速陈化处理循环期间使所述存储器裸片经历大大高于室温的温度。

4.根据权利要求3所述的方法，其中执行缺陷扫描进一步包括：

收集对应于一或多个预定写入-读取延迟时间的错误数据；以及

鉴于所述错误数据确定相对于参考电压的所述存储器裸片的置位容限的降级。

5.根据权利要求4所述的方法，其中执行缺陷扫描进一步包括：

使所述存储器裸片经历大大低于室温的温度；

在所述存储器裸片上执行预定数目的快速读取操作；

收集对应于所述快速读取操作的错误数据；以及

鉴于对应于所述快速读取操作的所述错误数据，确定相对于所述参考电压的所述存储器裸片的复位容限的降级。

6.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

响应于在第一阈值数目的加速陈化处理循环之后确定所述缺陷扫描的所述结果满足对应于所述第一可靠性分区的所述一或多个预定阈值可靠性准则，将加速陈化处理循环的数目增加到下一较高阈值数目。

7.根据权利要求6所述的方法，其中加速陈化处理循环的最大数目对应于所述存储器裸片预期在操作寿命期间在组装到存储器装置中之后经历的操作循环的总数目。

8.一种系统，其包括：

测试设置，其包括多个存储器裸片；以及

处理装置，其以操作方式耦合到所述多个存储器裸片，以针对所述多个存储器裸片中的每一个执行筛选操作，所述筛选操作包括：

预先确定加速陈化处理测试期间的多个检查点，其中所述多个检查点中的每一检查点对应于循环阈值准则；

确定存储器裸片上执行的加速陈化处理循环的数目是否满足第一检查点的循环阈值准则；

响应于确定加速陈化处理循环的所述数目满足所述第一检查点的所述循环阈值准则，确定与所述存储器裸片相关联的错误率；

确定所述错误率是否满足特定针对预定可靠性额定值的错误阈值准则；以及

响应于确定所述错误率满足所述错误阈值准则，重复所述筛选操作直至满足下一检查点的循环阈值准则。

9.根据权利要求8所述的系统，其中所述操作进一步包括：

响应于确定所述错误率不满足所述错误阈值准则，将所述存储器裸片分类为与多个可靠性分区中的相应可靠性分区相关联，而不进行到所述下一检查点。

10.根据权利要求8所述的系统，其中使用选自特定可靠性分区的一或多个存储器裸片来组装具有特定可靠性额定值的存储器装置。

11.根据权利要求10所述的系统，其中所述循环阈值准则是基于高温下加速陈化处理循环的数目与操作寿命期间所述存储器装置上执行的正常操作循环的数目之间的对应关系。

12.根据权利要求11所述的系统，其中基于高温下的复位容限降级来设定所述错误阈值准则。