[发明专利]测距方法、终端及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110772364.1 申请日: 2021-07-08
公开(公告)号: CN113219476B 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 莫苏苏;吴昊;刘德珩;王抒昂 申请(专利权)人: 武汉市聚芯微电子有限责任公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S17/894
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 蒋雅洁;张颖玲
地址: 430270 湖北省武汉市东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 测距 方法 终端 存储 介质
【说明书】:

本申请实施例公开了一种测距方法、终端及存储介质,所述方法应用于配置TOF传感器和发射光源的终端,包括:在第一状态下通过TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据,并根据灰度图和/或第一相位数据判断是否存在干扰;其中,第一状态为关闭发射光源的状态;若判定存在干扰,则开启抗干扰模式,并通过TOF传感器基于抗干扰模式获取第一深度图;其中,抗干扰模式为第一状态和第二状态周期性切换的模式;第二状态为开启发射光源的状态;若第一深度图中存在异常像素点,则对异常像素点进行修复处理,获得第一深度图对应的修复后深度图;根据修复后深度图确定距离信息。

技术领域

发明涉及距离测量技术领域,尤其涉及一种测距方法、终端及存储介质。

背景技术

在飞行时间(Time of Flight,TOF)相机的接收信号中,由于干扰的存在,会使TOF相机的距离测量精度受到影响。为了克服这一影响,目前使用差分输出像素结构的TOF传感器来进行环境光干扰的消除。

然而,当干扰很强时,对测量精度的影响仍旧很明显,且由于其他设备发射的调制光信号的波长和调制周期相同或相近,因此并不能以消除这些周期性调制信号的干扰。

可见,由于干扰信号的原因,目前的基于TOF技术的测距方案,存在准确性差、精度低的缺陷。

发明内容

本申请实施例提供了一种测距方法、终端及存储介质,能够在最大程度上消除环境干扰对测距精度的影响,获得精度更高的深度图,进而可以提高测距处理的准确性和可靠性。

本申请实施例的技术方案是这样实现的:

第一方面,本申请实施例提供了一种测距方法,所述方法应用于配置TOF传感器和发射光源的终端,所述方法包括:

在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据,并根据所述灰度图和/或所述第一相位数据判断是否存在干扰;其中,所述第一状态为关闭所述发射光源的状态;

若判定存在干扰,则开启抗干扰模式,并通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图;其中,所述抗干扰模式为所述第一状态和第二状态周期性切换的模式;所述第二状态为开启所述发射光源的状态;

若所述第一深度图中存在异常像素点,则对所述异常像素点进行修复处理,获得所述第一深度图对应的修复后深度图;

根据所述修复后深度图确定距离信息。

第二方面,本申请实施例提供了一种终端,所述终端配置TOF传感器和发射光源,包括:采集单元,判断单元,开启单元,获取单元,修复单元,确定单元,所述采集单元,用于在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据;其中,所述第一状态为关闭所述发射光源的状态;

所述判断单元,用于根据所述灰度图和/或所述第一相位数据判断是否存在干扰;

所述开启单元,用于若判定存在干扰,则开启抗干扰模式;其中,所述抗干扰模式为所述第一状态和第二状态周期性切换的模式;所述第二状态为开启所述发射光源的状态;

所述获取单元,用于通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图;

所述修复单元,用于若所述第一深度图中存在异常像素点,则对所述异常像素点进行修复处理,获得所述第一深度图对应的修复后深度图;

所述确定单元,用于根据所述修复后深度图确定距离信息。

第三方面,本申请实施例提供了一种终端,所述终端包括处理器、存储有所述处理器可执行指令的存储器、TOF传感器以及发射光源,当所述指令被所述处理器执行时,实现如第一方面所述的测距方法。

第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,所述程序被处理器执行时,实现如第一方面所述的测距方法。

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