[发明专利]测距方法、终端及存储介质

权利要求书

1.一种测距方法，其特征在于，所述方法应用于配置TOF传感器和发射光源的终端，所述方法包括：

在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据，并根据所述灰度图和/或所述第一相位数据判断是否存在干扰；其中，所述第一状态为关闭所述发射光源的状态；

若判定存在干扰，则开启抗干扰模式，并通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图；其中，所述抗干扰模式为所述第一状态和第二状态周期性切换的模式；所述第二状态为开启所述发射光源的状态；

若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的修复后深度图；

根据所述修复后深度图确定距离信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据，包括：

在所述第一状态下，控制所述TOF传感器按照预设帧率采集所述灰度图；和/或；

在所述第一状态下，控制所述TOF传感器按照第一采集帧率采集所述第一相位数据。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰度图判断是否存在干扰，包括：

计算所述灰度图对应的第一均值参数和第一波动参数；

根据所述第一均值参数和/或所述第一波动参数判断是否存在干扰。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一相位数据判断是否存在干扰，包括：

根据所述第一相位数据生成第一幅度图；

确定所述第一幅度图对应的第二均值参数和第二波动参数；

根据所述第二均值参数和/或所述第二波动参数判断是否存在干扰。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图，包括：

在所述第一状态下，控制所述TOF传感器按照第二采集帧率采集第二相位数据；

在所述第二状态下，控制所述TOF传感器按照所述第二采集帧率采集第三相位数据；

根据所述第二相位数据和所述第三相位数据生成所述第一深度图。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二相位数据和所述第三相位数据生成所述第一深度图，包括：

计算所述第三相位数据与所述第二相位数据之间的相位差值数据；

基于所述相位差值数据生成所述第一深度图像。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

基于所述抗干扰模式，通过所述TOF传感器采集至少两个调制频率对应的至少两个深度图；

对所述至少两个深度图进行融合处理，生成所述第一深度图。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的修复后深度图之前，所述方法还包括：

计算一帧第一深度图中的每一个像素点对应的深度值和强度参数；

根据所述每一个像素点对应的深度值和所述强度参数判断所述一帧第一深度图中是否存在所述异常像素点。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的修复后深度图之前，所述方法还包括：

计算连续多帧第一深度图中的同一像素点对应的深度波动参数和强度波动参数；

根据所述同一像素点对应的深度波动参数和所述强度波动参数判断所述多帧第一深度图中是否存在所述异常像素点。