[发明专利]一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法在审
申请号: | 202110760414.4 | 申请日: | 2021-07-06 |
公开(公告)号: | CN113533838A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 张金锁;黄科;倪友福 | 申请(专利权)人: | 迪力普电子(常州)有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25;G01R1/30 |
代理公司: | 南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙) 32411 | 代理人: | 柳强 |
地址: | 213002 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 fpga 综合测试 系统 方法 | ||
本发明涉及线束测试技术领域,具体涉及一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法;将DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块,用于所有测试项目;将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连,由FPGA调节量程,用于所有测试项目;在交流项目测试的时候,4路锁相放大器和4路积分型模数转换器同步并行工作,直流项目测试的时候,2路积分型模数转换器同步并行工作;FPGA读取ADC的转换结果,由内部DSP软核进行运算,并最终得出测试结果,与传统方案相比,功能强大,电路集成度高,体积减小,重量减轻,4路并行检测,测试速度快。
技术领域
本发明涉及线束测试技术领域,尤其涉及一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法。
背景技术
线束测试系统通常分成测试主机箱和开关阵列箱。在用于船舶、列车、飞机等领域的线束、线缆测试时,测试主机箱与开关阵列箱通常情况下会相隔一段距离,测试主机箱与开关阵列箱之间通过电缆进行连接。
传统的线束综合测试系统采用的方式是将各种功能的仪器仪表通过通讯总线和电脑连接,来实现各项测试功能,这种方式,虽然有测试功能强大,配置灵活的优势,但是体积过大,重量过重,成本过高的缺点,不利于设备的便携。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法,旨在解决现有技术中线束综合测试系统体积过大,重量过重,成本过高的缺点,不利于设备的便携的技术问题。
为实现上述目的,本发明提供了一种基于FPGA的线束综合测试系方法,
将DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块,用于所有测试项目;
将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连,由FPGA调节量程,用于所有测试项目;
在交流项目测试的时候,4路锁相放大器和4路积分型模数转换器同步并行工作,直流项目测试的时候,2路积分型模数转换器同步并行工作;
FPGA读取ADC的转换结果,由内部DSP软核进行运算,并最终得出测试结果。
其中,在DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块,用于所有测试项目的步骤中:
DDS由FPGA和一个双路的12位双极性DAC以及数字滤波器组成。
其中,在DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块,用于所有测试项目的步骤中:
所述高压信号源是由功放A2、高压变压器T1、高压继电器K1和K2、整流二极管D1、滤波电容C3、源内阻R2组成。
其中,在将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连,由FPGA调节量程,用于所有测试项目的步骤中:
所述电压采样模块由可编程增益放大器PGA1构成,测试信号施加在被测物Rx上后,FPGA根据不同的信号幅度,控制可变增益放大器PGA1的输出幅度。
本发明还提供一种采用上述所述的基于FPGA的线束综合测试方法的测试系统,所述基于FPGA的线束综合测试系统包括主机、测试总线、通讯总线和从机,所述测试总线和所述通讯总线分别与所述主机电性连接,所述从机的数量为多个,每个所述从机分别与所述试总线和所述通讯总线电性连接。
本发明的一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法,通过上述方法,实现了信号源的共用、电压测量模块的共用、电流测量模块的共用、AD转换模块的共用,同时还实现了4路数字化的锁相放大器PDC1~PDC4和4路积分型数模转换器ADC1~ADC4,进行同步并行检测,缩短了测试时间,通过信号源的数字化、锁相放大器的数字化、ADC的数字化,减小了整个系统的物理尺寸。
附图说明
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