[发明专利]一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法在审
申请号: | 202110760414.4 | 申请日: | 2021-07-06 |
公开(公告)号: | CN113533838A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 张金锁;黄科;倪友福 | 申请(专利权)人: | 迪力普电子(常州)有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25;G01R1/30 |
代理公司: | 南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙) 32411 | 代理人: | 柳强 |
地址: | 213002 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 fpga 综合测试 系统 方法 | ||
1.一种基于FPGA的线束综合测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
将DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块,用于所有测试项目;
将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连,由FPGA调节量程,用于所有测试项目;
在交流项目测试的时候,4路锁相放大器和4路积分型模数转换器同步并行工作,直流项目测试的时候,2路积分型模数转换器同步并行工作;
FPGA读取ADC的转换结果,由内部DSP软核进行运算,并最终得出测试结果。
2.如权利要求1所述的一种基于FPGA的线束综合测试方法,其特征在于,在DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块,用于所有测试项目的步骤中:
DDS由FPGA和一个双路的12位双极性DAC以及数字滤波器组成。
3.如权利要求2所述的一种基于FPGA的线束综合测试方法,其特征在于,在DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块,用于所有测试项目的步骤中:
所述高压信号源是由功放A2、高压变压器T1、高压继电器K1和K2、整流二极管D1、滤波电容C3、源内阻R2组成。
4.如权利要求3所述的一种基于FPGA的线束综合测试方法,其特征在于,在将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连,由FPGA调节量程,用于所有测试项目的步骤中:
所述电压采样模块由可编程增益放大器PGA1构成,测试信号施加在被测物Rx上后,FPGA根据不同的信号幅度,控制可变增益放大器PGA1的输出幅度。
5.采用如权利要求4所述的基于FPGA的线束综合测试方法的测试系统,其特征在于,
所述基于FPGA的线束综合测试系统包括主机、测试总线、通讯总线和从机,所述测试总线和所述通讯总线分别与所述主机电性连接,所述从机的数量为多个,每个所述从机分别与所述试总线和所述通讯总线电性连接。
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