[发明专利]用于测试连续逼近寄存器模数转换器的方法和装置

说明书

本公开的各实施例涉及用于测试连续逼近寄存器模数转换器的方法和装置。一种集成电路包括逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)。ADC包括位步长选择器。在ADC的测试期间，位步长选择器基于在针对最近的模拟测试电压的最近的数字值的整数增量值内的数字值，来选择要针对下一模拟测试电压而测试的位数。

技术领域

本公开涉及模数转换器的领域。本公开更具体地涉及测试模数转换器。

背景技术

集成电路通常包括模数转换器。模数转换器接收模拟电压并且输出表示模拟电压的数字值。通常，在模数转换器投入使用之前，会针对输入模拟电压的预期范围来测试模数转换器。测试过程可以有助于确立模数转换器将为整个输入电压范围提供数字值。

发明内容

在本公开的一个实施例中，一种方法包括使用在输入测试电压范围内的多个单调递增的输入测试电压来测试模数转换器。该方法包括在模数转换器的位步长选择器中存储整数值，并且在测试期间使用模数转换器标识与最近的输入测试电压相对应的第一数字值。该方法包括标识在第一数字值与第二数字值之间改变的最高有效位，第二数字值在距第一数字值的整数值内。该方法包括通过仅调节第一数字值的、具有有效性等于或小于在第一数字值与第二数字值之间改变的最高有效位的位来测试输入测试电压范围内的下一输入测试电压。

在一个实施例中，一种方法包括使用来自输入测试电压范围的单调递增的输入测试电压来测试逐次逼近模数转换器。该方法包括在模数转换器的位步长选择器中存储整数值。该方法包括使用位步长选择器，基于在第一数字值与第二数字值之间改变的最高有效位，来标识要针对下一输入测试电压而测试的一组数字值，第二数字值在距第一数字值的整数值内。第一数字值对应于最近的输入测试电压。该方法包括通过从模数转换器的逐次逼近寄存器仅提供该组数字值来测试下一输入测试电压。

在一个实施例中，一种集成电路，包括模数转换器。模数转换器包括逐次逼近寄存器，被配置为输出数字值，每个数字值包括多个位。模数转换器包括数模转换器，耦合到逐次逼近寄存器，并且被配置为接收数字值并且生成表示数字值的模拟输出电压。模数转换器包括比较器，耦合到数模转换器并且被配置为在测试期间将模拟输出电压与模拟测试电压进行比较。模数转换器包括位步长选择器，位步长选择器耦合到逐次逼近寄存器，并且被配置为存储整数值，以标识与最近的模拟测试电压相对应的最近的数字值，并且基于第一数字值和第二数字值来选择要由逐次逼近寄存器针对下一模拟测试电压而测试的位数，第二数字值在距第一数字值的整数值内。第一数字值对应于最近的模拟测试电压。

附图说明

图1是根据一个实施例的包括模数转换器的集成电路的框图；

图2示出了根据一个实施例的测试电压范围和该电压范围的对应数字值的图表；

图3示出了根据一个实施例的用于测试模数转换器的位步长选择的各方面；

图4示出了根据一个实施例的用于测试模数转换器的位步长选择的各方面；

图5是根据一个实施例的用于测试模数转换器的过程的流程图；以及

图6是根据一个实施例的用于测试模数转换器的过程的流程图。

具体实施方式

图1是根据一个实施例的集成电路100的框图。集成电路100包括模数转换器(ADC)。ADC 102被配置为在进入标准操作模式之前高效且有效地测试自身。如下面更详细地阐述，ADC 102利用测试过程，该测试过程减少在测试期间要执行的位测试的次数。结果是模数转换器在使用之前完成测试需要更少时间和计算资源。