[发明专利]用于测试连续逼近寄存器模数转换器的方法和装置

权利要求书

1.一种方法，包括：

使用在输入测试电压范围内的多个单调递增的输入测试电压来测试模数转换器；

在所述模数转换器的位步长选择器中存储整数值；

在测试期间使用所述模数转换器标识与最近的输入测试电压相对应的第一数字值；

标识在所述第一数字值与第二数字值之间改变的最高有效位，所述第二数字值在距所述第一数字值的所述整数值内；以及

通过仅调节所述第一数字值的、具有有效性等于或小于在所述第一数字值与所述第二数字值之间改变的所述最高有效位的位，来测试所述输入测试电压范围内的下一输入测试电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其中标识改变的所述最高有效位包括：对所述第一数字值和所述第二数字值执行异或运算。

3.根据权利要求1所述的方法，其中标识改变的所述最高有效位包括：对所述第二数字值和第三数字值执行异或运算，其中所述第二数字值是在所述第一数字值之前的所述整数值，其中所述第三数字值是在所述第一数字值之后的所述整数值。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述模数转换器是逐次逼近寄存器模数转换器。

5.根据权利要求1所述的方法，还包括：使用所述位步长选择器标识改变的所述最高有效位。

6.根据权利要求5所述的方法，还包括：使用耦合到所述位步长选择器的逐次逼近寄存器来测试所述下一输入电压。

7.一种方法，包括：

使用来自输入测试电压范围的单调递增的输入测试电压来测试逐次逼近模数转换器；

在所述模数转换器的位步长选择器中存储整数值；

使用所述位步长选择器，基于在所述第一数字值到第二数字值之间改变的最高有效位，来标识要针对下一输入测试电压而测试的一组数字值，所述第二数字值在距所述第一数字值的所述整数值内，其中所述第一数字值对应于最近的输入测试电压；以及

通过从所述模数转换器的逐次逼近寄存器仅提供所述一组数字值，来测试所述下一输入测试电压。

8.根据权利要求7所述的方法，还包括：通过在所述模数转换器的测试期间启用所述位步长选择器，来使用所述位步长选择器标识改变的所述最高有效位。

9.根据权利要求8所述的方法，其中标识所述最高有效位包括：对所述第一数字值和所述第二数字值执行异或运算。

10.根据权利要求8所述的方法，其中标识所述最高有效位包括：对所述第二数字值和第三数字值执行异或运算，其中所述第二数字值是在所述第一数字值之前的所述整数值，其中所述第三数字值是在所述第一数字值之后的所述整数值。

11.根据权利要求7所述的方法，还包括：从所述模数转换器外部的电路接收所述整数值。

12.一种包括模数转换器的集成电路，所述模数转换器包括：

逐次逼近寄存器，被配置为输出数字值，每个数字值包括多个位；

数模转换器，耦合到所述逐次逼近寄存器，并且被配置为接收所述数字值并且生成表示所述数字值的模拟输出电压；

比较器，耦合到所述数模转换器，并且被配置为在测试期间将所述模拟输出电压与模拟测试电压进行比较；以及

位步长选择器，耦合到所述逐次逼近寄存器，并且被配置为存储整数值，以标识与最近的模拟测试电压相对应的最近的数字值，并且基于第一数字值和第二数字值，来选择要由所述逐次逼近寄存器针对下一模拟测试电压而测试的位数，所述第二数字值在距所述第一数字值的所述整数值内，其中所述第一数字值对应于最近的模拟测试电压。

13.根据权利要求12所述的集成电路，其中所述位步长选择器包括被配置为基于所述整数值和所述第一数字值来选择所述位数的逻辑电路。