[发明专利]一种显示面板的检测方法

说明书

本发明公开了一种显示面板的检测方法，包括：向第一子像素组电连接的扫描线提供非使能信号，向第二子像素组电连接的扫描线提供使能信号；向相同发光颜色的子像素电连接的数据线提供相同的数据信号，并获取子像素的发光亮度；根据子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素。本发明提供的技术方案可以提高检出沿列方向相邻的两个子像素发生短路问题的概率，避免不良显示面板流出，减少人力和财力的损失。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测方法。

背景技术

随着显示技术的发展，液晶显示面板、有机发光显示面板等类型的显示面板广泛应用于手机、电脑等显示装置中。由于显示面板的质量直接影响了显示装置的性能，因此，显示面板的检测变得尤其重要。

目前，在对显示面板进行不良检测时，一般同时点亮所有子像素，然后拍摄点灯后的图片，对图片进行处理后，通过图片进行不良的检出和判定。但是，如果上下相邻的两个子像素之间存在短路的现象，即垂直连接不良，现有检查方式不能区分子像素点亮是由于短路导致的，还是它自身也是正常，即无法检查出垂直连接不良问题，最终可能会导致具有垂直连接不良的显示面板大量漏出到模组工程，造成人力和财力的浪费。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种显示面板的检测方法，其可以提高检出沿列方向相邻的两个子像素发生短路问题的概率，避免不良显示面板流出，减少人力和财力的损失。

为达上述目的，本发明采用以下技术方案：

提供一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括多行多列子像素，沿行方向，位于同一行的所述子像素连接同一条扫描线，沿列方向，位于同一列的所述子像素连接同一条数据线；所述显示面板包括沿所述列方向交替排列的第一子像素组和第二子像素组，所述第一子像素组和所述第二子像素组均包括n行所述子像素；其中，n为正整数；

向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号；

向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度；

根据所述子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，所述根据所述子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素包括：

判断属于所述第一子像素组的所述子像素的所述发光亮度是否大于第一阈值；

若是，则确定该所述子像素为第一疑似短路子像素；

确定与所述第一疑似短路子像素沿所述列方向相邻且属于所述第二子像素组的所述子像素为第二疑似短路子像素；

判断所述第二疑似短路子像素的所述发光亮度是否小于与其发光颜色相同的其它所述子像素的所述发光亮度；

若是，确定所述第一疑似短路子像素和所述第二疑似短路子像素为所述垂直连接不良的子像素。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，还包括：

若所述第二疑似短路子像素的所述发光亮度等于与其发光颜色相同的其它所述子像素的所述发光亮度，则记录所述第一疑似短路子像素的位置。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，还包括：

记录所述垂直连接不良的子像素的位置。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，n＝1或2。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，所述子像素包括红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和白色子像素；