[发明专利]一种显示面板的检测方法

权利要求书

1.一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括多行多列子像素，沿行方向，位于同一行的所述子像素连接同一条扫描线，沿列方向，位于同一列的所述子像素连接同一条数据线；

所述显示面板包括沿所述列方向交替排列的第一子像素组和第二子像素组，所述第一子像素组和所述第二子像素组均包括n行所述子像素；其中，n为正整数；其特征在于，

向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号；

向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度；

根据所述子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素；

所述根据所述子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素包括：

判断属于所述第一子像素组的所述子像素的所述发光亮度是否大于第一阈值；

若是，则确定该所述子像素为第一疑似短路子像素；

确定与所述第一疑似短路子像素沿所述列方向相邻且属于所述第二子像素组的所述子像素为第二疑似短路子像素；

判断所述第二疑似短路子像素的所述发光亮度是否小于与其发光颜色相同的其它所述子像素的所述发光亮度；

若是，确定所述第一疑似短路子像素和所述第二疑似短路子像素为所述垂直连接不良的子像素。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，还包括：

若所述第二疑似短路子像素的所述发光亮度等于与其发光颜色相同的其它所述子像素的所述发光亮度，则记录所述第一疑似短路子像素的位置。

3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，还包括：

记录所述垂直连接不良的子像素的位置。

4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，n＝1或2。

5.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述子像素包括红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和白色子像素；

所述向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度包括：

向各所述红色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述红色子像素的发光亮度；

向各所述绿色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述绿色子像素的发光亮度；

向各所述蓝色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述蓝色子像素的发光亮度；

向各所述白色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述白色子像素的发光亮度。

6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号之前还包括：

控制同一所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；和/或；

控制同一所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

7.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号之前还包括：

控制至少两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；和/或；

控制至少两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

8.根据权利要求7所述的显示面板的检测方法，其特征在于，控制至少两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接包括：

沿所述列方向，控制中间间隔一个所述第一子像素组以及两个第二子像素组的两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；

所述控制至少两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接包括：

沿所述列方向，控制中间间隔两个所述第一子像素组以及一个第二子像素组的两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

9.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板的检测方法还包括：

向所述第一子像素组以及所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供所述使能信号；

向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度；

根据所述子像素的发光亮度判断是否存在坏点子像素。