[发明专利]一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法

说明书

本发明公开了一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法，系统包括：转换模块测试单元格式转换；整合模块测试单元数据和测试单元的整合；树形结构构造模块对表格型数据进行解析，将表格型数据转换为有层次结构的树形数据；显示模块将需要追踪的数据添加到波形窗口；数据操作模块对需要操作的树形数据进行操作。本发明将原始的文本数据按照树形结构显示，可以实时的响应用户的操作，对海量数据进行检索，设计的波形窗口可以对数据进行合并，拆分，进制转换等操作，解决了芯片测试的数据量大，数据不直观，难以追踪与比较的问题。

技术领域

本发明属于计算机和芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法。

背景技术

对于芯片测试的数据进行处理一直以来都依赖于网页技术或者Excel进行处理，但是以上方案都不能便捷的进行层次化数据的处理。

随着芯片规模越来越大，测试单元数量高达上亿，以上技术也不合适处理如此大规模的数据，同时芯片测试单元具有内在关联，需要对数据进行合并/拆分等操作，所以迫切需要一种专用的数据处理分析工具解决当前芯片测试数据分析遇到的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种芯片测试数据的树形显示与操作系统。

为实现上述技术目的，本发明采取的技术方案为：

一种芯片测试数据的树形显示与操作系统，包括转换模块、整合模块、树形结构构造模块、显示模块和数据操作模块；

转换模块，用于测试单元格式转换，对测试单元进行解析并从文本格式转换为表格型数据；

整合模块，用于测试单元数据和测试单元的整合，将每次测试单元的数据合并到测试单元，然后转换为二进制数据；

树形结构构造模块，用于对表格型数据进行解析，将表格型数据转换为有层次结构的树形数据；

显示模块，用于将需要追踪的数据添加到波形窗口；

数据操作模块，用于对需要操作的树形数据进行操作。

为优化上述技术方案，采取的具体措施还包括：

上述的系统还包括树形数据搜索模块，用于用户按照正则表达式对任何层次的树节点进行搜索，将返回所有符合条件的测试单元。

上述的表格型数据，其结构包括子节点信息，父节点信息，根节点判断信息。

上述的整合模块，建立数据和单元的映射，添加校对机制检查映射是否是一对一的映射。

上述的树形结构构造模块，读取格式转换后的测试单元并建立第一层次的树形结构；

读取整合后的测试单元数据并根据用户的操作动态的建立更深层次的数据结构；

对树形数据进行渲染，并根据用户的操作动态的展开与收缩树的层次。

上述的显示模块以总线或者单比特显示波形数据。

一种芯片测试数据的树形显示与操作方法，包括：

步骤1：将测试单元的数据由表格型动态转换为树形结构，并构建第一层次的数据；

步骤2：根据用户对树形结构的操作，展开更深的层次；

步骤3：将需要观测的树形数据添加到波形窗口进行进一步的操作，之后导出数据。

上述的步骤2中，如果单一层次数据过多，则动态显示更多的数据，避免一次渲染的数据量过多造成显示卡顿。

上述的方法还包括：