[发明专利]一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法有效
| 申请号: | 202110682823.7 | 申请日: | 2021-06-18 |
| 公开(公告)号: | CN113468003B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
| 发明(设计)人: | 郭希训;于威;刘圆;牛沿笼;孙怡乐;石加圣 | 申请(专利权)人: | 上海芷锐电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F40/177 |
| 代理公司: | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人: | 戴朝荣 |
| 地址: | 201114 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 测试数据 树形 显示 操作系统 方法 | ||
1.一种芯片测试数据的树形显示与操作系统,其特征在于,包括转换模块、整合模块、树形结构构造模块、显示模块和数据操作模块;
转换模块,用于测试单元格式转换,对测试单元进行解析并从文本格式转换为表格型数据;
整合模块,用于测试单元数据和测试单元的整合,将每次测试单元的数据合并到测试单元,然后转换为二进制数据;
树形结构构造模块,用于对表格型数据进行解析,将表格型数据转换为有层次结构的树形数据;所述树形结构构造模块,读取格式转换后的测试单元并建立第一层次的树形结构;读取整合后的测试单元数据并根据用户的操作动态的建立更深层次的数据结构;对树形数据进行渲染,并根据用户的操作动态的展开与收缩树的层次;
显示模块,用于将需要追踪的数据添加到波形窗口;
数据操作模块,用于对需要操作的树形数据进行操作;
所述系统还包括树形数据搜索模块,用于用户按照正则表达式对任何层次的树节点进行搜索,将返回所有符合条件的测试单元;
所述表格型数据,其结构包括子节点信息,父节点信息,根节点判断信息。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试数据的树形显示与操作系统,其特征在于,所述整合模块,建立数据和单元的映射,添加校对机制检查映射是否是一对一的映射。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试数据的树形显示与操作系统,其特征在于,所述显示模块以总线或者单比特显示波形数据。
4.一种芯片测试数据的树形显示与操作方法,其特征在于,应用于权利要求1-3任意一项所述的芯片测试数据的树形显示与操作系统,所述方法包括:
步骤1:将测试单元的数据由表格型动态转换为树形结构,并构建第一层次的数据;
步骤2:根据用户对树形结构的操作,展开更深的层次;
步骤3:将需要观测的树形数据添加到波形窗口进行进一步的操作,之后导出数据。
5.根据权利要求4所述的一种芯片测试数据的树形显示与操作方法,其特征在于,步骤2中,如果单一层次数据过多,则动态显示更多的数据,避免一次渲染的数据量过多造成显示卡顿。
6.根据权利要求4所述的一种芯片测试数据的树形显示与操作方法,其特征在于,所述方法还包括:
步骤4:导入新的测试单元数据,并且波形窗口数据直接更新为新的单元数据值,比较不同测试单元数据值的差异。
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