[发明专利]一种位姿确定方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种位姿确定方法，其特征在于，所述方法包括：

电子设备确定图像对应的至少两条观测线段；

基于各所述观测线段以及与各所述观测线段匹配的参考线段，确定第一角度候选集合；

基于所述第一角度候选集合和所述电子设备的初始位姿，确定所述电子设备的第一位姿候选集合；

基于所述第一位姿候选集合、各所述观测线段、以及与各所述观测线段匹配的参考线段，确定所述电子设备的位姿；

所述基于各所述观测线段以及与各所述观测线段匹配的参考线段，确定第一角度候选集合，包括：

基于各所述观测线段在世界坐标系中与世界坐标系X轴之间的夹角、各所述观测线段匹配的参考线段在所述世界坐标系中与所述世界坐标系X轴之间的夹角，以及各所述观测线段基于所述电子设备的初始位姿在所述世界坐标系中的投影与所述世界坐标系X轴之间的夹角，确定角度残差代价函数；

基于所述角度残差代价函数确定角度优化目标函数；求解所述角度优化目标函数，得到初始角度修正值；基于所述初始角度修正值、角度修正阈值范围和角度修正步长，确定所述第一角度候选集合。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述初始角度修正值、角度修正阈值范围和角度修正步长，确定所述第一角度候选集合，包括：

基于所述电子设备的初始位姿中的初始角度、所述初始角度修正值、所述初始角度修正值范围和角度步长，确定所述第一角度候选集合中的每一个元素；

其中，所述第一角度候选集合中元素的数量基于角度候选范围和角度步长确定。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一角度候选集合和所述电子设备的初始位姿，确定所述电子设备的第一位姿候选集合，包括：

利用所述第一角度候选集合中的每一个元素替换所述初始位姿中的角度值，得到所述第一位姿候选集合。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一位姿候选集合、各所述观测线段、以及与各所述观测线段匹配的参考线段，确定所述电子设备的位姿，包括：

基于所述各所述观测线段，以及与各所述观测线段匹配的参考线段，确定位姿修正向量；

基于所述位姿修正向量，修正所述第一位姿候选集合中的每个元素，得到目标位姿候选集合；

从所述目标位姿候选集合中选择一个位姿为所述电子设备的位姿。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各所述观测线段，以及与各所述观测线段匹配的参考线段，确定位姿修正向量，包括：

基于各所述观测线段的中点位置、所述与各所述观测线段匹配的参考线段的中点位置和各所述参考线段的法向量，确定各所述观测线段与其所匹配的参考线段之间的距离向量；

基于所述距离向量确定位置残差代价函数；

求解所述位置残差代价函数，得到位姿修正向量。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述从所述目标位姿候选集合中选择一个位姿为所述电子设备的位姿，包括：

利用所述位姿修正向量修正所述第一位姿候选集合中的位姿向量，得到目标位姿候选集合；

计算所述目标位姿候选集合中每一个元素对应的位置残差代价和角度残差代价；

基于所述位置残差代价、所述角度残差代价和第一权重系数，确定所述目标位姿候选集合中每一个元素的分数；

确定分数最大值对应的元素为所述电子设备的位姿。