[发明专利]一种液晶显示面板测试方法及设备

说明书

本申请公开一种液晶显示面板测试方法及设备，在阵列电测中对阵列板的栅极加持续第一时长的第一电压，对阵列板的漏极加持续第一时长的第二电压，再对加压后的阵列板进行测试，以确定阵列板是否异常；在切割后点片测试中对第一半成品的栅极加持续第二时长的第三电压，对第一半成品的漏极加持续第二时长的第四电压，再对加压后的第一半成品进行测试，以确定第一半成品是否异常；其中，第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，第一电压、第三电压处于栅极的额定电压区间之外，第二电压、第四电压处于漏极的额定电压区间之外；解决了现有液晶显示面板测试过程粗糙，导致液晶显示面板漏检率高的问题。

技术领域

本申请涉及液晶显示领域，特别涉及一种液晶显示面板测试方法及设备。

背景技术

近年来，液晶显示技术获得了飞速发展，其具有成熟度较高、低辐射、低功耗和易集成等优异特点，因此，在显示领域获得了广泛的应用，特别是在便携式电子产品的显示上。

液晶显示面板在生产过程中需要进行测试，以确定液晶显示面板是否达到质量要求。但是，相关技术中，液晶显示面板测试过程粗糙，导致某些存在缺陷的液晶显示面板无法检测出来，从而导致漏检率高，液晶显示面板质量低、使用寿命短。

发明内容

本申请的主要目的是提供一种液晶显示面板测试方法及设备，旨在解决现有液晶显示面板测试过程粗糙，导致漏检率高的问题。

为了实现上述目的，本申请提供一种液晶显示面板测试方法，所述液晶显示面板测试方法包括：

在阵列电测中，对阵列板的栅极加持续第一时长的第一电压，对所述阵列板的漏极加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一电压处于所述阵列板的栅极的额定电压区间之外，所述第二电压处于所述阵列板的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述阵列板进行测试，以确定所述阵列板是否异常；

在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第二时长的第三电压，对所述第一半成品的漏极加持续所述第二时长的第四电压；其中，所述第一半成品由所述阵列板和彩色滤光片制成，所述第三电压处于所述第一半成品的栅极的额定电压区间之外，所述第四电压处于所述第一半成品的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常。

可选的，所述第一电压小于所述阵列板的栅极的额定电压区间的最小值，所述第二电压大于所述阵列板的漏极的额定电压区间的最大值。

可选的，所述第一电压大于所述阵列板的栅极的额定电压区间的最大值，所述第二电压小于所述阵列板的漏极的额定电压区间的最小值。

可选的，所述第三电压小于所述第一半成品的栅极的额定电压区间的最小值，所述第四电压大于所述第一半成品的漏极的额定电压区间的最大值。

可选的，所述第三电压大于所述第一半成品的栅极的额定电压区间的最大值，所述第四电压小于所述第一半成品的漏极的额定电压区间的最小值。

可选的，所述阵列板的栅极的额定电压区间等于所述第一半成品的栅极的额定电压区间；其中，所述栅极的额定电压区间为-9V～30V；

所述阵列板的漏极的额定电压区间等于所述第一半成品的漏极的额定电压区间；其中，所述漏极的额定电压区间为0V～14V。

可选的，所述阵列板的栅极走线由铜制成。

可选的，所述阵列板的漏极走线由铜或铝制成。

可选的，所述第一时长大于等于3秒，且小于等于6秒；

所述第二时长大于等于2秒，且小于等于8秒。

可选的，所述对加压后的所述第一半成品进行测试的步骤，包括：