[发明专利]一种液晶显示面板测试方法及设备

权利要求书

1.一种液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述液晶显示面板测试方法包括：

在阵列电测中，对阵列板的栅极加持续第一时长的第一电压，对所述阵列板的漏极加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一电压处于所述阵列板的栅极的额定电压区间之外，所述第二电压处于所述阵列板的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述阵列板进行测试，以确定所述阵列板是否异常；

在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第二时长的第三电压，对所述第一半成品的漏极加持续所述第二时长的第四电压；其中，所述第一半成品由所述阵列板和彩色滤光片制成，所述第三电压处于所述第一半成品的栅极的额定电压区间之外，所述第四电压处于所述第一半成品的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常。

2.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第一电压小于所述阵列板的栅极的额定电压区间的最小值，所述第二电压大于所述阵列板的漏极的额定电压区间的最大值。

3.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第一电压大于所述阵列板的栅极的额定电压区间的最大值，所述第二电压小于所述阵列板的漏极的额定电压区间的最小值。

4.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第三电压小于所述第一半成品的栅极的额定电压区间的最小值，所述第四电压大于所述第一半成品的漏极的额定电压区间的最大值。

5.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第三电压大于所述第一半成品的栅极的额定电压区间的最大值，所述第四电压小于所述第一半成品的漏极的额定电压区间的最小值。

6.如权利要求1-5中任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述阵列板的栅极的额定电压区间等于所述第一半成品的栅极的额定电压区间；其中，所述栅极的额定电压区间为-9V～30V；

所述阵列板的漏极的额定电压区间等于所述第一半成品的漏极的额定电压区间；其中，所述漏极的额定电压区间为0V～14V。

7.如权利要求1-5中任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述阵列板的栅极走线由铜制成。

8.如权利要求1-5任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述阵列板的漏极走线由铜或铝制成。

9.如权利要求1-5中任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第一时长大于等于3秒，且小于等于6秒；

所述第二时长大于等于2秒，且小于等于8秒。

10.一种液晶显示面板测试设备，其特征在于，所述液晶显示面板测试设备用于：

在阵列电测中，对阵列板的栅极加持续第一时长的第一电压，对所述阵列板的漏极加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一电压处于所述阵列板的栅极的额定电压区间之外，所述第二电压处于所述阵列板的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述阵列板进行测试，以确定所述阵列板是否异常；

在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第二时长的第三电压，对所述第一半成品的漏极加持续所述第二时长的第四电压；其中，所述第一半成品由所述阵列板和彩色滤光片制成，所述第三电压处于所述第一半成品的栅极的额定电压区间之外，所述第四电压处于所述第一半成品的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常。