[发明专利]一种用于接触低温易凝结物的电特性检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种用于接触低温易凝结物的电特性检测方法及装置，该检测方法包括以下步骤：分析计算得到寄生电容C_P；测量带有易凝结物的被测物质，得到新的测量电容；将新的测量电容结合寄生电容C_P，得到实测的测量电容；分析计算得到易凝结物的质量；分析计算得到所需的加热热量Q及融化易凝结物所需的时间t。有益效果：不仅有效地解决了目前在包含低温易凝结物的发射、接收天线在表面有易凝结物时，信号噪音增大的问题，而且还有效地解决了电特性传感器表面有低温易凝结物的时候，电特性受到影响的问题，有效地解决了表面易凝结物对电特性检测结果影响的问题。

技术领域

本发明涉及电特性检测技术领域，具体来说，涉及一种用于接触低温易凝结物的电特性检测方法及装置。

背景技术

电特性传感器作为一种常见的传感器，在很多方面有着广泛的应用。但是对于一些不纯净物质的测量，或对那些容易有易凝结物的物质的测量，使用场景受到很大的限制。

例如，用于信号发射与接收的天线，在处理精密信号时，如果表面被易凝结物或者别的污垢污染时，必然会增加信号噪音，影响信号精确性，因此，现有技术中遇到这个情况时，必须要对天线进行定期的清理，花费大量的人力物力。

再如，用于检测电特性的传感器，如果被检测物质中，含有低温易凝结物质，在温度下降或者物理条件变化导致晶体结晶时，必然会导致电特性出现突变，以电容传感器为例，有时候最大的偏差会达到20%左右，目前遇到这样的情况，必须要对传感器进行定期清理，或者增加复杂的机构来对传感器表面进行清理，让整个装置变得异常复杂，而且不容易维护；加上一般的环境都有防爆的要求，辅助的清洗装置增加防爆要求以后，会让设备的体积、成本升高很快，在有些空间狭小的场景，就让电特性传感器根本就失去了使用场景。

综上，针对于天线或者电特性传感器，迫切需要一种简单可靠的方法，来消除易凝结物对信号或者电特性测量的影响。

发明内容

针对相关技术中的问题，本发明提出一种用于接触低温易凝结物的电特性检测方法及装置，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。

为此，本发明采用的具体技术方案如下：

根据本发明的一个方面，提供了一种用于接触低温易凝结物的电特性检测方法，该检测方法包括以下步骤：

S1、利用预设的电容测量电路测量被测物质得到真正的测量电容C₀^’，并分析计算得到寄生电容C_P；

S2、通过电容测量电路测量带有易凝结物的被测物质，得到新的测量电容；

S3、将新的测量电容结合寄生电容C_P，得到实测的测量电容；

S4、依据实测的测量电容的变化，分析计算得到易凝结物的质量；

S5、依据加热能量公式分析计算得到所需的加热热量Q，并计算得到融化易凝结物所需的时间t。

进一步的，所述S1中利用预设的电容测量电路测量被测物质得到真正的测量电容C₀^’，并分析计算得到寄生电容C_P包括以下步骤：

S101、设定内电极的内径为d₁，内电极的外径和绝缘层的内径为d₂，绝缘层的外径和导体套管的内径为d₃，导体套管的外径为d₄，外电极的直径为D；

S102、假设内电极与绝缘层形成的电容为C₁，绝缘层的介电常数为，同轴电容的有效长度为L，计算得到电容C₁，其中，电容C₁的计算公式如下：

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