[发明专利]一种漏洞的问题定位方法及装置、存储介质、终端

说明书

一种漏洞的问题定位方法及装置、存储介质、终端、所述漏洞的问题定位方法，包括：获取待测试产品在测试时得到的第一日志信息；采用预设的错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，得到解析结果，其中，所述错误关键字集合包括若干个错误关键字，所述错误关键字包括否定语义词和/或缓存错误关键词；根据所述解析结果，对漏洞的问题进行定位。上述方案，能够提高BUG发现率，及准确定位BUG的原因值。

技术领域

本发明实施例涉及设备测试技术领域，尤其涉及一种漏洞的问题定位方法及装置、存储介质、终端。

背景技术

手机、物联网(Internet of things，IOT)设备、车载设备的厂商通常是针对不同硬件、不同操作系统提供解决方案，这其中大部分是驱动开发好以后，适配不同的中间件层、应用层，而客户有时并不会使用厂商提供参考的应用，而是采用自己的应用。如何能够更好的跨平台、跨操作系统定位驱动本身的问题，通常需要对手机、IOT设备、车载设备等设备进行自动化测试和手动测试。

然而，对手机、IOT设备、车载设备等设备进行自动化测试和手动测试时，漏洞(BUG)的发现率较低，且不易定位BUG的原因。

发明内容

本发明实施例解决的技术问题是如何提高BUG发现率，及准确定位BUG的原因值。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种漏洞的问题定位方法，包括：获取待测试产品在测试时得到的第一日志信息；采用预设的错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，得到解析结果，其中，所述错误关键字集合包括若干个错误关键字，所述错误关键字包括否定语义词和/或缓存错误关键词；根据所述解析结果，对漏洞的问题进行定位。

可选的，所述采用预设的错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，得到解析结果，包括：获取参照样本在测试时得到的参照日志信息，所述参照样本指功能正确且具有与所述待测试产品相同业务模块代码的产品；采用所述错误关键字集合对所述参照日志信息进行解析，得到参照结果；采用所述错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，得到中间结果；从所述中间结果中去掉所述参照结果，得到所述解析结果。

可选的，所述采用所述错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，包括：采用所述错误关键字集合中的各个错误关键字从所述第一日志信息中查找出包含各个错误关键字的语句，所述第一日志信息包含多个语句。

可选的，所述错误关键字集合包括多个子集，所述子集与待测试产品的业务模块相对应，所述采用所述错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，包括：根据所述待测试产品的业务模块，从所述错误关键字集合中获取与所述待测试产品的业务模块相对应的子集；采用与所述待测试产品的业务模块相对应的子集对所述第一日志信息进行解析。

可选的，所述错误关键字集合从所述待测试产品的源代码的错误关键字打印语句中提取得到。

可选的，采用如下方式得到所述错误关键字集合：从所述待测试产品的源代码的错误关键字打印语句中提取否定语义词和/或缓存错误关键词，将提取的否定语义词和/或缓存错误关键词作为错误关键字，并得到由错误关键字组成的初始集合；根据所述初始集合得到所述错误关键字集合。

可选的，所述根据所述初始集合得到所述错误关键字集合，包括：获取参照样本在测试时得到的参照日志信息，所述参照样本指功能正确且具有与所述待测试产品相同业务模块代码的产品；采用所述初始集合对所述参照日志信息进行解析，得到第一结果；将所述第一结果与所述参照样本对应的源代码中的错误关键字打印语句进行相似比对，根据比对结果得到第二结果，所述第二结果包括一个或多个非漏洞的错误关键字；从所述初始集合中去除所述第二结果中包含的一个或多个非漏洞的错误关键字，得到所述错误关键字集合。

可选的，所述根据比对结果得到第二结果，包括：将所述第一结果与所述参照样本对应的源代码中的错误关键字打印语句中相同的部分作为所述第二结果。