[发明专利]一种漏洞的问题定位方法及装置、存储介质、终端

权利要求书

1.一种漏洞的问题定位方法，其特征在于，包括：

获取待测试产品在测试时得到的第一日志信息；

采用预设的错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，得到解析结果，其中，所述错误关键字集合包括若干个错误关键字，所述错误关键字为否定语义词和/或缓存错误关键词；

根据所述解析结果，对漏洞的问题进行定位；

其中，所述错误关键字集合从所述待测试产品的源代码的错误关键字打印语句中提取得到；

采用如下方式得到所述错误关键字集合：

从所述待测试产品的源代码的错误关键字打印语句中提取否定语义词和/或缓存错误关键词，将提取的否定语义词和/或缓存错误关键词作为错误关键字，并得到由错误关键字组成的初始集合；

根据所述初始集合得到所述错误关键字集合；

所述根据所述初始集合得到所述错误关键字集合，包括：

获取参照样本在测试时得到的参照日志信息，所述参照样本指功能正确且具有与所述待测试产品相同业务模块代码的产品；

采用所述初始集合对所述参照日志信息进行解析，得到第一结果；

将所述第一结果与所述参照样本对应的源代码中的错误关键字打印语句进行相似比对，根据比对结果得到第二结果，所述第二结果包括一个或多个非漏洞的错误关键字；

从所述初始集合中去除所述第二结果中包含的一个或多个非漏洞的错误关键字，得到所述错误关键字集合；

所述采用所述初始集合对所述参照日志信息进行解析，得到第一结果，包括：采用所述初始集合中的错误关键字从所述参照日志信息查找出包含所述错误关键字的语句，根据包含错误关键字的语句得到所述第一结果，所述参照日志信息包含多个语句。

2.如权利要求1所述的漏洞的问题定位方法，其特征在于，所述采用预设的错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，得到解析结果，包括：

获取参照样本在测试时得到的参照日志信息，所述参照样本指功能正确且具有与所述待测试产品相同业务模块代码的产品；

采用所述错误关键字集合对所述参照日志信息进行解析，得到参照结果；

采用所述错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，得到中间结果；

从所述中间结果中去掉所述参照结果，得到所述解析结果。

3.如权利要求2所述的漏洞的问题定位方法，其特征在于，所述采用所述错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，包括：

采用所述错误关键字集合中的各个错误关键字从所述第一日志信息中查找出包含各个错误关键字的语句，所述第一日志信息包含多个语句。

4.如权利要求2所述的漏洞的问题定位方法，其特征在于，所述错误关键字集合包括多个子集，所述子集与待测试产品的业务模块相对应，所述采用所述错误关键字集合对所述第一日志信息进行解析，包括：

根据所述待测试产品的业务模块，从所述错误关键字集合中获取与所述待测试产品的业务模块相对应的子集；

采用与所述待测试产品的业务模块相对应的子集对所述第一日志信息进行解析。

5.如权利要求1所述的漏洞的问题定位方法，其特征在于，所述根据比对结果得到第二结果，包括：

将所述第一结果与所述参照样本对应的源代码中的错误关键字打印语句中相同的部分作为所述第二结果。

6.如权利要求1所述的漏洞的问题定位方法，其特征在于，判断所述参照样本对应的源代码是否进行错误关键字的提取，若未进行错误关键字的提取，则从所述参照样本对应的源代码的错误关键字打印语句中提取否定语义词和/或缓存错误关键词，并将提取到的否定语义词和/或缓存错误关键词加入至所述初始集合。