[发明专利]静态随机存取存储器单元结构及静态随机存取存储器在审

专利信息
申请号: 202110668464.X 申请日: 2021-06-16
公开(公告)号: CN113628649A 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 肖韩;张奕涵;叶乐;黄如 申请(专利权)人: 杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技术高等研究院
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413;G11C16/34;G11C8/14;G11C7/18;G11C5/14
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 孔垂超
地址: 311200 浙江省杭州市萧*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 静态 随机存取存储器 单元 结构
【权利要求书】:

1.一种静态随机存取存储器单元结构,其特征在于,包括第一反相器、第二反相器、第三NMOS管、第四NMOS管和第五NMOS管;所述第一反相器的输出端连接所述第二反相器的输入端,所述第二反相器的输出端连接所述第一反相器的输入端;所述第三NMOS管的源极或漏极与所述第一反相器的输出端相连接;所述第四NMOS管的源极或漏极与所述第二反相器的输出端相连接;所述第五NMOS管的栅极与所述第二反相器的输出端相连接。

2.根据权利要求1所述的静态随机存取存储器单元结构,其特征在于,所述静态随机存取存储器单元结构还包括第六NMOS管;所述第六NMOS管的栅极与所述第一反相器的输出端相连接;所述第六NMOS管与所述第五NMOS管相连接。

3.根据权利要求2所述的静态随机存取存储器单元结构,其特征在于,所述第六NMOS管的源极或漏极与所述第五NMOS管的源极或漏极相连接。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的静态随机存取存储器单元结构,其特征在于,所述第一反相器包括第一PMOS管和第一NMOS管,所述第一PMOS管的漏极与所述第一NMOS管的漏极相连接,所述第一PMOS管的栅极与所述第一NMOS管的栅极相连接,所述第一PMOS管的栅极连接所述第一反相器的输入端,所述第一PMOS管的漏极连接所述第一反相器的输出端。

5.根据权利要求4所述的静态随机存取存储器单元结构,其特征在于,所述第五NMOS管的阈值电压低于所述第一NMOS管的阈值电压以及所述第三NMOS管的阈值电压。

6.根据权利要求1-3任一项所述的静态随机存取存储器单元结构,其特征在于,所述第二反相器包括第二PMOS管和第二NMOS管,所述第二PMOS管的漏极与所述第二NMOS管的漏极相连接,所述第二PMOS管的栅极与所述第二NMOS管的栅极相连接,所述第二PMOS管的栅极连接所述第二反相器的输入端,所述第二PMOS管的漏极连接所述第二反相器的输出端。

7.一种静态随机存取存储器,其特征在于,包括写字线、写位线、读位线、读字线以及多个如权利要求1-6中任一项所述的静态随机存取存储器单元结构,其中,所述第三NMOS管的栅极以及所述第四NMOS管的栅极分别与所述写字线相连接,所述第五NMOS管的两端分别与所述读位线和所述读字线相连接;所述第三NMOS管的一端与所述写位线相连接。

8.一种存储设备,其特征在于,包括权利要求7所述的静态随机存取存储器。

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