[发明专利]一种探针台MAP生成方法及系统

权利要求书

1.一种探针台MAP生成方法，其特征在于，包括：

提取测试机测试芯片过程中产生的测试信息；

生成MAP模板，根据所述测试信息填充所述MAP模板，生成新MAP；

显示所述新MAP；

将所述新MAP保存为二进制文件。

2.根据权利要求1所述探针台MAP生成方法，其特征在于，所述提取测试机测试芯片过程中产生的测试信息，包括：

解析所述测试机产生的测试数据，所述测试数据包括datalog、STDF文件；

从解析后的测试数据中，提取坐标信息xy、良品属性pass/fail信息、bin别。

3.根据权利要求2所述探针台MAP生成方法，其特征在于，所述生成MAP模板，根据所述测试信息填充所述MAP模板，生成新MAP，包括：

使用探针台示例程序生成完整的二进制MAP模板文件，所述MAP模板文件的芯片总数Gross Die与正常测试一致，芯片坐标与正常测试一致，初始BIN别全部为0，良品属性全部为fail；所述二进制MAP模板文件包括三部分：

a.头信息：占据第1-236字节，所述头信息包括：操作者名称、设备名称、测试时间、芯片总数信息；

b.每个芯片的测试结果：每颗芯片占据6个字节长度，保存了坐标xy、良品属性pass/fail和bin别信息，总字节长度为MAP总行数*MAP总列数*6；

c.每个芯片的行类别：每颗芯片占据8个字节长度，保存了bin别的二进制信息，总字节长度为MAP总行数*MAP总列数*8；

将从解析后的测试数据中提取出的每颗芯片的坐标xy、良品属性pass/fail、bin别信息按照所述b的格式转换成新的6个字节，替换掉所述MAP模板文件对应位置的6个字节数据，全部芯片替换完成后，第二部分b的所有字节被更新，生成了新MAP。

4.根据权利要求1-3所述探针台MAP生成方法，其特征在于，所述探针台为TSK探针台。

5.根据权利要求2所述探针台MAP生成方法，其特征在于，所述生成MAP模板，根据所述测试信息填充所述MAP模板，生成新MAP，包括：

使用探针台示例程序生成完整的二进制MAP模板文件，所述MAP模板文件的芯片总数Gross Die与正常测试一致，芯片坐标与正常测试一致，初始BIN别全部为0，良品属性全部为fail；所述二进制MAP模板文件包括三部分：

a.头信息：占据第1-66字节，所述头信息包括：操作者名称、设备名称、测试时间、芯片总数信息；

b.每行的测试结果：结构为X坐标+Y坐标+该行芯片数量+[Bin值+芯片状态]*该行芯片数量，X坐标和Y坐标均占2个字节，该行芯片数量、Bin值和芯片状态均占1个字节；

c.结束信息：占据2个字节，表示结束符号，固定为00,80；

将从解析后的测试数据中提取出的每颗芯片的坐标xy、良品属性pass/fail、bin别信息按照所述b的格式转换成新的字节串，替换掉所述MAP模板文件对应位置的原字节数据，全部芯片替换完成后，第二部分b的所有字节被更新，生成了新MAP。

6.根据权利要求5所述探针台MAP生成方法，其特征在于，所述探针台为TEL探针台。

7.一种探针台MAP生成系统，其特征在于，包括：

提取单元，用于提取测试机测试芯片过程中产生的测试信息；

生成单元，用于生成MAP模板，根据所述测试信息填充所述MAP模板，生成新MAP；

显示单元，用于显示所述新MAP；

保存单元，用于将所述新MAP保存为二进制文件。

8.根据权利要求7所述探针台MAP生成系统，其特征在于，所述提取单元用于：

解析所述测试机产生的测试数据，所述测试数据包括datalog、STDF文件；

从解析后的测试数据中，提取坐标信息xy、良品属性pass/fail信息、bin别。