[发明专利]一种镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法

权利要求书

1.一种镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，所述分析方法包括以下步骤：

(1)将标准样品进行压片处理，然后采用X射线荧光光谱仪对压片样品进行测试，选定模型校正曲线谱图并且将曲线谱图预处理后，建立得到相应的标准曲线；

(2)对待测样品进行压片处理，然后采用X射线荧光光谱仪对压片样品进行测试，依据步骤(1)所述相应的标准曲线，得到待测样品中主元素含量。

2.根据权利要求1所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，步骤(1)所述标准样品中主元素为镍元素、钴元素和锰元素；

优选地，步骤(2)所述待测样品中主元素为镍元素、钴元素和锰元素。

3.根据权利要求1或2所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，步骤(1)所述压片处理中的压力和步骤(2)所述压片处理中的压力各自独立地为30～50t。

4.根据权利要求1-3任一项所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，步骤(1)所述压片处理中的保压时间和步骤(2)所述压片处理中的保压时间各自独立地为60～100s。

5.根据权利要求1-4任一项所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，步骤(1)所述测试过程中，以所述标准样品中主元素的Ka谱线为分析线，同时选择与谱线对应的2θ角；

优选地，步骤(1)所述测试过程中，光管电压为30～45KV；

优选地，步骤(1)所述测试过程中，光管电流为800～1000μA。

6.根据权利要求1-5任一项所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，以所述待测样品中主元素的Ka谱线为分析线，同时选择与谱线对应的2θ角；

优选地，步骤(2)所述测试过程中，光管电压为30～45KV；

优选地，步骤(2)所述测试过程中，光管电流为800～1000μA。

7.根据权利要求1-6任一项所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，步骤(1)所述测试的时间和步骤(2)所述测试的时间各自独立地为50～100s。

8.根据权利要求1-7任一项所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，步骤(1)所述选定模型校正曲线谱图包括：

对步骤(1)所述标准样品中主元素进行测试，测试主元素的X射线荧光强度，并参照标准值，使用模型基体对测得的X射线荧光强度值进行校正，得到校正后的曲线图谱。

9.根据权利要求8所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，所述模型基体包括扩展的康普顿、基本参数薄、基本参数厚、基本参数厚无标样、卢卡斯-图思基体、Spectro Procedure、镀层厚度和成分分析、影响系数、Multilayer中的任意一种。

10.根据权利要求1-9任一项所述的镍钴锰酸锂正极材料中主元素含量的分析方法，其特征在于，所述分析方法包括以下步骤：

(1)将标准样品以30～50t的压力进行压片处理60～100s，然后以标准样品中主元素的Ka谱线为分析线，同时选择与谱线对应的2θ角，设置光管电压为30～45KV，光管电流为800～1000μA，采用X射线荧光光谱仪对压片样品进行测试50～100s，测试主元素的X射线荧光强度，并参照标准值，使用模型基体对测得的X射线荧光强度值进行校正，得到校正后的曲线图谱，建立得到相应的标准曲线；

(2)对待测样品以30～50t的压力进行压片处理60～100s，然后以待测样品中主元素的Ka谱线为分析线，同时选择与谱线对应的2θ角，设置光管电压为30～45KV，光管电流为800～1000μA，采用X射线荧光光谱仪对压片样品进行测试50～100s，测试主元素的X射线荧光强度，依据步骤(1)所述相应的标准曲线，得到待测样品中主元素含量；

其中，步骤(1)所述标准样品中主元素为镍元素、钴元素和锰元素，步骤(2)所述待测样品中主元素为镍元素、钴元素和锰元素，步骤(1)所述模型基体包括扩展的康普顿、基本参数薄、基本参数厚、基本参数厚无标样、卢卡斯-图思基体、Spectro Procedure、镀层厚度和成分分析、影响系数、Multilayer中的任意一种。