[发明专利]对位位置的校正量获取方法、调节方法、贴合方法及介质

权利要求书

1.对位位置的校正量获取方法，其特征在于，获取方法步骤包括：

S1：获取第一物料的特征坐标位置A(X₀,Y₀,R₀)，以及获取第二物料的特征坐标位置B(X₁,Y₁,R₁)，所述特征坐标位置为采用抓R角方式或抓边方式或抓Mark方式所得到的特征坐标位置；

S2：基于第一物料的特征坐标位置A(X₀,Y₀,R₀)与第二物料的特征坐标位置B(X₁,Y₁,R₁)，获得第一校正量C₁(dX₁,dY₁,dR₁)；

S3：采取拟合圆方法，获取第一孔的特征坐标位置A₁(X₀',Y₀',R₀')，以及获取第二孔特征的坐标位置B₁(X₁',Y₁',R₁')，所述第一孔为第一物料上的面板孔，所述第二孔为第二物料上的面板孔，所述第一孔与所述第二孔为相互匹配的对位孔；

S4：基于第一孔的特征坐标位置A₁(X₀',Y₀',R₀')以及第二孔的特征坐标位置B₁(X₁',Y₁',R₁')，获取第二校正量C2(dX₂,dY₂,dR₂)；

S5：基于第一校正量C₁(dX₁,dY₁,dR₁)以及第二校正量C2(dX₂,dY₂,dR₂)进行均值计算，获取均值的、对位位置的校正量D(dX₃,dY₃,dR₃)，R₀'＝R₀、R₁'＝R₁；

当采用抓取物料Mark的方式时，抓取物料角上的Mark，获取该Mark的坐标，该Mark的坐标为一个Mark的特征坐标位置；

所述步骤S1在采用抓边方式获取特征坐标位置具体的子步骤包括：

获取第一物料四角坐标为：P₁(X₁,Y₁)、P₂(X₂,Y₂)、P₃(X₃,Y₃)、P₄(X₄,Y₄)；

获取第二物料四角坐标为：P₅(X₅,Y₅)、P₆(X₆,Y₆)、P₇(X₇,Y₇)、P₈(X₈,Y₈)；

基于第一物料的四角坐标以及第二物料的四角坐标，获得第一物料特征坐标位置A(X₀,Y₀,R₀)以及第二物料特征坐标位置B(X₁,Y₁,R₁)；

所述第一物料特征坐标位置A(X₀,Y₀,R₀)的具体计算表达式为：

X₀＝(X₁+X₂+X₃+X₄)/4

Y₀＝(Y₁+Y₂+Y₃+Y₄)/4

是P₁、P₂连线组成矢量线段的角度，是P₃、P₄连线组成矢量线段的角度；

所述第二物料特征坐标位置B(X₁,Y₁,R₁)的具体计算表达式为：

X₁＝(X₅+X₆+X₇+X₈)/4

Y₁＝(Y₅+Y₆+Y₇+Y₈)/4

是P₅、P₆连线组成矢量线段的角度，是P₇、P₈连线组成矢量线段的角度；

R₀为第一物料特征坐标A(X₀,Y₀,R₀)中的角度，R₁为第二物料特征坐标B(X₁,Y₁,R₁)中的角度，dR₁为第一校正量C₁(dX₁，dY_1,dR₁)中的角度校正量，dR₂为第二校正量C2(dX₂,dY₂,dR₂)中的角度校正量，dR₃为校正量D(dX₃,dY₃,dR₃)中的均值角度校正量，R₀'为第一孔的特征坐标位置A₁(X₀',Y₀',R₀')中的角度，R₁'为第二孔的特征坐标位置B₁(X₁',Y₁',R₁')中的角度。