[发明专利]一种通用LED测试装置及测试方法

说明书

本发明涉及一种通用LED测试装置及测试方法，属于LED测试技术领域，该方法包括：测试平台，测试平台内嵌有置物台，置物台内开有置物台窗口，置物台的上表面设有上层测试夹，上层测试夹连接有金属电极柱，金属电极柱的顶部位于测试平台的上方，金属电极柱的下部穿过测试平台，置物台的下底面设有下层测试夹，下层测试夹一端与金属电极柱的下部连接；测试底座，测试底座位于测试平台的下方，测试底座内设有电极柱槽，电极柱槽内设有电极触点，电极触点具有弹性，金属电极柱下部位于所电极柱槽内，且与电极触点紧密接触。

技术领域

本发明属于LED测试技术领域，尤其涉及一种通用LED测试装置及测试方法。

背景技术

LED(Light Emitting Diode发光二极管)是半导体二极管的一种，可以把电能转化成光能。目前市场上的LED外观形式种类较多，从电极的位置上分，有的电极在出光面的上面，有的电极在出光面的下面，还有的在出光面的侧面。尤其是紫外LED，由于芯片封装形式是倒装，电极一般在出光面的下方，由于电极本身尺寸较小，普通的积分球测试使用的测试夹具是弹性探针形式，放置LED后看不见测试探针是否与LED电极接触，只能通电看LED是否被点亮，有时还需要多次矫正，测试效率比较低。另外，由于电极的位置不同，测试时还需要更换测试夹具，由于反复的更换测试夹具会磨损夹具转换的接口，从而造成对夹具的损坏，影响夹具的使用寿命。

发明内容

本发明提供一种通用LED测试装置及测试方法，以解决上述测试效率比较低、对夹具的造成损坏的问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种通用LED测试装置，包括：

测试平台，上述测试平台内嵌有置物台，上述置物台内开有置物台窗口，上述置物台的上表面设有上层测试夹，上述上层测试夹连接有金属电极柱，上述金属电极柱的顶部位于测试平台的上方，上述金属电极柱的下部穿过测试平台，上述置物台的下底面设有下层测试夹，上述下层测试夹一端与上述金属电极柱的下部连接；

测试底座，上述测试底座位于上述测试平台的下方，上述测试底座内设有电极柱槽，上述电极柱槽内设有电极触点，上述电极触点具有弹性，上述金属电极柱下部位于上述电极柱槽内，且与上述电极触点紧密接触，上述金属电极柱底部连接有导线，上述导线另一端用于与电源连接。

上述测试平台的下底面设有定位片，上述测试底座的上表面设有与上述定位片相配合的定位槽。

上述电极柱槽的下方设有磁铁，用于吸附上述金属电极柱。

上述置物台窗口的尺寸大于被测试LED围坝外围的尺寸，小于被测试LED底部基板外围的尺寸。

上述置物台设有卡扣，上述置物台与上述测试平台卡扣连接。

上述上层测试夹、上述下层测试夹开有通槽，从而实现转动和滑动。

在距离上述金属电极柱的预设位置设有极性标识。

上述上层测试夹、上述下层测试夹均是具有弹性的金属片。

上述金属片的材料为钼、铜、钢、合金中的一种。

根据本发明的一个方面，提供了一种通用LED装置的测试方法，包括：首先根据极性标识将被测试的LED放入置物台窗口内，然后取出测试平台，调节上述平台底部的下层测试夹的位置，使其搭接到上述被测试的LED的电极上，然后将金属电极柱放入电极柱槽内，使上述金属电极柱与具有弹性的电极触点紧密接触，建立电路连接，进行LED测试。