[发明专利]一种通用LED测试装置及测试方法有效
申请号: | 202110650166.8 | 申请日: | 2021-06-10 |
公开(公告)号: | CN113358998B | 公开(公告)日: | 2023-01-06 |
发明(设计)人: | 刘春岩;闫建昌;薛斌;王军喜;李晋闽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 鄢功军 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 通用 led 测试 装置 方法 | ||
1.一种通用LED测试装置,包括:
测试平台,所述测试平台内嵌有置物台,所述置物台内开有置物台窗口,所述置物台的上表面设有上层测试夹,所述上层测试夹连接有金属电极柱,所述金属电极柱的顶部位于测试平台的上方,所述金属电极柱的下部穿过测试平台,所述置物台的下底面设有下层测试夹,所述下层测试夹一端与所述金属电极柱的下部连接;
测试底座,所述测试底座位于所述测试平台的下方,所述测试底座内设有电极柱槽,所述电极柱槽内设有电极触点,所述电极触点具有弹性,所述金属电极柱下部位于所述电极柱槽内,且与所述电极触点紧密接触,所述金属电极柱底部连接有导线,所述导线另一端用于与电源连接。
2.根据权利要求1所述的通用LED测试装置,所述测试平台的下底面设有定位片,所述测试底座的上表面设有与所述定位片相配合的定位槽。
3.根据权利要求1所述的通用LED测试装置,所述电极柱槽的下方设有磁铁,用于吸附所述金属电极柱。
4.根据权利要求1-3任一项所述的通用LED测试装置,所述置物台窗口的尺寸大于被测试LED围坝外围的尺寸,小于被测试LED底部基板外围的尺寸。
5.根据权利要求4所述的通用LED测试装置,所述置物台设有卡扣,所述置物台与所述测试平台卡扣连接。
6.根据权利要求5所述的通用LED测试装置,所述上层测试夹、所述下层测试夹开有通槽,从而实现转动和滑动。
7.根据权利要求6所述的通用LED测试装置,在距离所述金属电极柱的预设位置设有极性标识。
8.根据权利要求7所述的通用LED测试装置,所述上层测试夹、所述下层测试夹均是具有弹性的金属片。
9.根据权利要求8所述的通用LED测试装置,所述金属片的材料为钼、铜、钢、合金中的一种。
10.一种利用权利要求1-9中任一项所述的通用LED测试装置对LED进行测试的方法,包括:
首先根据极性标识将被测试的LED放入置物台窗口内,然后取出测试平台,调节所述测试平台底部的下层测试夹的位置,使其搭接到所述被测试的LED的电极上,然后将金属电极柱放入电极柱槽内,使所述金属电极柱与具有弹性的电极触点紧密接触,建立电路连接,进行LED测试。
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