[发明专利]一种提高激光陀螺仪刻度因数长期稳定性的方法有效
| 申请号: | 202110649568.6 | 申请日: | 2021-06-10 |
| 公开(公告)号: | CN113418521B | 公开(公告)日: | 2022-10-28 |
| 发明(设计)人: | 梁浩;何川 | 申请(专利权)人: | 北京航天时代激光导航技术有限责任公司 |
| 主分类号: | G01C19/72 | 分类号: | G01C19/72;G01C25/00 |
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 刘秀祥 |
| 地址: | 100094 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 提高 激光 陀螺仪 刻度 因数 长期 稳定性 方法 | ||
1.一种提高激光陀螺仪刻度因数长期稳定性的方法,其特征在于,包括如下步骤:
将激光陀螺仪的工作范围温度进行分段;根据分段结果建立初步标定模型,初步标定模型中的补偿阵的初值为零;初步标定模型为:
V=N·(D·T+E+H)
V为标定模型计算的腔长控制电压;D为系数阵;T为温度阵;E为零次项阵;H为补偿阵;N为温度段阵,只有对应所测量到温度段的值取1,其余为0;
测量激光陀螺仪在设定温度区间内的腔长控制电压,设定温度区间涵盖工作范围温度;
对工作范围温度中的每一段的某个温度点,利用该温度点、初步标定模型的腔长控制电压计算结果、该温度点测量的腔长控制电压,修正初步标定模型中的补偿阵的值,进一步获得修正后的标定模型;
激光陀螺仪正常上电工作后,测量实时温度,并利用修正后的标定模型计算腔长控制电压V;当激光陀螺仪的腔长控制电路闭环后,获得激光陀螺仪输出的腔长控制电压V~,利用V和V~持续更新修正后标定模型中的补偿阵。
2.根据权利要求1所述的提高激光陀螺仪刻度因数长期稳定性的方法,其特征在于,用于标定的激光陀螺仪,选定该激光陀螺仪工作在背向散射信号最小或者测试精度最高的陀螺模式。
3.根据权利要求1所述的提高激光陀螺仪刻度因数长期稳定性的方法,其特征在于,测量激光陀螺仪在设定温度区间内的腔长控制电压时,将激光陀螺仪置于温箱内,在设定温度区间的最低温度保温预设时间后,逐渐升温到设定温度区间的最高温度并保温,然后再逐渐降温到设定温度区间的最低温度并保温。
4.一种提高激光陀螺仪刻度因数长期稳定性的装置,其特征在于,包括:
建模模块,用于将激光陀螺仪的工作范围温度进行分段;根据分段结果建立初步标定模型,初步标定模型中的补偿阵的初值为零;初步标定模型为:
V=N·(D·T+E+H)
V为标定模型计算的腔长控制电压;D为系数阵;T为温度阵;E为零次项阵;H为补偿阵;N为温度段阵,只有对应所测量到温度段的值取1,其余为0;
测量模块,用于测量激光陀螺仪在设定温度区间内的腔长控制电压,设定温度区间涵盖工作范围温度;
修正模块,对工作范围温度中的每一段的某个温度点,利用该温度点、初步标定模型的腔长控制电压计算结果、该温度点测量的腔长控制电压,修正初步标定模型中的补偿阵的值,进一步获得修正后的标定模型;
更新模块,激光陀螺仪正常上电工作后,用于测量实时温度,并利用修正后的标定模型计算腔长控制电压V;当激光陀螺仪的腔长控制电路闭环后,获得激光陀螺仪输出的腔长控制电压V~,利用V和V~持续更新修正后标定模型中的补偿阵。
5.根据权利要求4所述的提高激光陀螺仪刻度因数长期稳定性的装置,其特征在于,用于标定的激光陀螺仪,选定该激光陀螺仪工作在背向散射信号最小或者测试精度最高的陀螺模式。
6.根据权利要求4所述的提高激光陀螺仪刻度因数长期稳定性的装置,其特征在于,测量激光陀螺仪在设定温度区间内的腔长控制电压时,将激光陀螺仪置于温箱内,在设定温度区间的最低温度保温预设时间后,逐渐升温到设定温度区间的最高温度并保温,然后再逐渐降温到设定温度区间的最低温度并保温。
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