[发明专利]一种双通道背景抑制光电传感器集成电路及控制方法有效
申请号: | 202110637587.7 | 申请日: | 2021-06-08 |
公开(公告)号: | CN113267825B | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 卿定求 | 申请(专利权)人: | 广州市合熠智能科技股份有限公司 |
主分类号: | G01V8/10 | 分类号: | G01V8/10;G05B19/042 |
代理公司: | 北京高航知识产权代理有限公司 11530 | 代理人: | 乔浩刚 |
地址: | 510700 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双通道 背景 抑制 光电 传感器 集成电路 控制 方法 | ||
1.一种双通道背景抑制光电传感器集成电路,其特征在于,包括信号发射模块、发射驱动模块、主控MCU、信号接收模块、信号放大模块、信号检测模块、模数变换模块、DSP模块、输出模块和电源模块;其中主控MCU与电源模块的输出端相连;主控MCU与输出模块的输入端相连;主控MCU与发射驱动模块的输入端相连,信号发射模块与发射驱动模块的输出端相连;且主控MCU与信号检测模块的输出端相连,其中信号接收模块的输出端与信号放大模块的输入端相连,信号放大模块的输出端与信号检测模块的输入端相连;且信号放大模块的输出端还与模数变换模块的输入端相连,模数变换模块的输出端与DSP模块相连,DSP模块的输出端与主控MCU相连;信号发射模块包括光学透镜组件和发射器,其中发射器包括激光二极管和红外发射二极管;
发射驱动模块包括与发射器相连的发射脉冲驱动电路;
信号接收模块包括光学透镜组件和接收器,其中接收器包括光电二极管;
信号放大模块包括放大电路,其中放大电路的输入端与接收器相连;
信号检测模块包括信号检测电路,其中信号检测电路的输入端与放大电路的输出端相连,信号检测电路的输出端与主控MCU相连;
输出模块包括输出控制电路、信号输出电路和NPN/PNP输出电路,其中输出控制电路的输入端与主控MCU相连,输出控制电路的输出端分别连接信号输出电路和NPN/PNP输出电路;
模数变换模块包括AD转换电路,其中AD转换电路的输入端与放大电路相连,AD转换电路的输出端与DSP模块连接;
DSP模块包括放大反馈单元;其中,放大反馈单元用于根据AD转换电路输出的数字信号检测放大电路输出信号的电压值,当电压值超过设定的阈值范围时,则向主控MCU发出驱动信号,以使得主控MCU通过放大倍数调节单元相应调节放大电路的放大倍数;
DSP模块还包括缓存单元和数字滤波单元;
缓存单元与AD转换电路的输出端相连,用于获取AD转换电路输出的数字电压信号;
数字滤波单元用于对缓存单元获取的数字电压信号进行滤波处理,输出滤波信号;
放大反馈单元与数字滤波单元的输出端连接,用于检测滤波信号的电压值,当电压值超过设定的阈值范围时,向主控MCU发出驱动信号,以使得主控MCU通过放大倍数调节单元相应调节放大电路的放大倍数;
其中,数字滤波单元对缓存单元获取的数字电压信号进行滤波处理,具体包括:
对获取的数字电压信号进行经验模态分解,获取数字电压信号的N阶IMF分量和余量{IMF1,IMF2,...,IMFN,IMFN+1};
根据获取的IMF分量进行划分,将前x个IMF分量{IMF1,...IMFx}划分为高频IMF分量;将其余IMF分量{IMFx+1,...IMFN}和余量IMFN+1划分为低频IMF分量;
根据高频IMF分量进行累加重构,得到第一高频分量信号;根据低频IMF分量进行累加重构,得到第一低频分量信号;
针对获取的高频分量信号进行高斯平滑滤波处理,得到第二高频分量信号;
根据第二高频分量信号和第一低频分量信号进行累加重构,得到滤波信号;
其中,根据获取的IMF分量进行划分,具体包括:
从2阶IMF分量开始,依次计算各阶IMF分量的特征参量:
式中,μ(n)表示n阶IMF分量的特征参量,表示n阶IMF分量的过零率,示n-1阶IMF分量的过零率,α表示设定的过零率归一化调节因子;表示n阶IMF分量采样周期内极大值的总数,表示n-1阶IMF分量采样周期内极大值的总数,β表示设定的极大值率归一化调节因子;表示n阶IMF分量采样周期内各采样点对应的幅值绝对值的均值,即|IMFn(i)|表示n阶IMF分量采样周期内第i个采样点的幅值的绝对值;I表示采样周期内采样点的总数,γ表示设定的幅值归一化调节因子;
将各阶IMF分量的特征参量μ(n)与设定的阈值ε进行比较,当发现μ(x)≥ε时,则将前x-1个IMF分量{IMF1,...IMFx-1}划分为高频IMF分量;将其余IMF分量{IMFx,...IMFN}和余量IMFN+1划分为低频IMF分量。
2.权利要求1所述一种双通道背景抑制光电传感器集成电路的控制方法,其特征在于,包括:
主控MCU控制发射驱动模块运作,由发射驱动模块控制信号发射模块发射光束;
当信号接收模块接收到反射光束后产生相应的信号,信号经过信号放大模块进行放大处理后传输至信号检测模块;当信号检测模块检测到有效信号时,向主控MCU传输检测结果,由主控MCU根据检测结果控制输出模块输出相应的输出信号;
其中信号经过信号放大模块进行放大处理后还传输至模数变换模块,由模数变换模块将信号变换为数字电压信号后传输至DSP模块,DSP模块根据数字电压信号进行输出相应的调节指令至主控MCU,由主控MCU根据接收到的调节指令调节信号放大模块的放大倍数。
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