[发明专利]一种定位方法、装置、设备和存储介质在审
申请号: | 202110632444.7 | 申请日: | 2021-06-07 |
公开(公告)号: | CN113324542A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 王峰;马福强;王超;陈建楠 | 申请(专利权)人: | 北京京东乾石科技有限公司 |
主分类号: | G01C21/16 | 分类号: | G01C21/16;G01C21/20;G01S17/93 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京经济技*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 定位 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种定位方法,其特征在于,应用于电子设备,所述电子设备包括激光雷达,所述方法包括:
确定电子设备本体的初始位姿变化信息;
根据所述激光雷达获取到的激光雷达数据,确定所述电子设备本体的测量位姿变化信息,并计算所述初始位姿变化信息和所述测量位姿变化信息的第一残差;
根据所述激光雷达获取到的当前激光雷达数据和预设地图所包含的障碍物数据确定第二残差;
根据所述第一残差和所述第二残差确定联合残差,并基于所述联合残差确定目标位姿。
2.根据权利要求1所述的定位方法,其特征在于,根据所述激光雷达获取到的激光雷达数据,确定所述电子设备本体的测量位姿变化信息,包括:
根据所述激光雷达数据确定所述激光雷达的激光位姿变化信息;
根据所述激光雷达和所述电子设备本体之间的位姿关系以及所述激光位姿变化信息,确定所述测量位姿变化信息。
3.根据权利要求2所述的定位方法,其特征在于,所述电子设备还包括:角位移传感器和惯性测量单元,
相应地,确定电子设备本体的初始位姿变化信息,包括:
根据所述角位移传感器确定所述电子设备本体的当前里程计信息和历史里程计信息,并基于所述当前里程计信息和所述历史里程计信息确定第一位姿变化信息,其中,所述第一位姿变化信息包括第一位置变化信息和第一姿态变化信息;
根据所述惯性测量单元确定所述电子设备本体的当前角速度和历史角速度,并基于所述当前角速度和所述历史角速度确定第二姿态变化信息;
将所述第一位置变化信息确定为初始位置变化信息,对所述第一姿态变化信息和所述第二姿态变化信息进行信息融合,以确定初始姿态变化信息,并将所述初始位置变化信息和所述初始姿态变化信息确定为所述初始位姿变化信息。
4.根据权利要求3所述的定位方法,其特征在于,当所述历史里程计信息包括历史时刻里程计信息,所述历史角速度包括历史时刻角速度时,所述初始位姿变化信息包括初始时刻位姿变化信息,
相应地,根据所述激光雷达数据确定所述激光雷达的激光位姿变化信息,包括:
根据所述激光雷达获取到的当前激光雷达数据和历史时刻激光雷达数据,确定所述激光位姿变化信息。
5.根据权利要求3所述的定位方法,其特征在于,当所述历史里程计信息包括历史帧里程计信息,所述历史角速度包括历史帧角速度时,所述初始位姿变化信息包括初始帧位姿变化信息,
相应地,根据所述激光雷达数据确定所述激光雷达的激光位姿变化信息,包括:
基于激光雷达里程计算法对所述激光雷达获取到的当前激光雷达数据和历史帧激光雷达数据进行计算,以确定所述激光位姿变化信息。
6.根据权利要求3所述的定位方法,其特征在于,所述测量位姿变化信息包括测量位置变化信息和测量姿态变化信息,
相应地,计算所述初始位姿变化信息和所述测量位姿变化信息的第一残差,包括:
根据所述初始位置变化信息和所述测量位置变化信息确定第一差值;
根据所述初始姿态变化信息和所述测量姿态变化信息确定第二差值;
基于所述第一差值和所述第二差值确定所述第一残差。
7.根据权利要求1所述的定位方法,其特征在于,所述预设地图包括栅格地图,栅格地图所包含各栅格的空间状态用于确定各所述栅格的数值,
相应地,根据所述激光雷达获取到的当前激光雷达数据和预设地图所包含的障碍物数据确定第二残差,包括:
根据所述当前激光雷达数据和相邻栅格的数值确定各所述栅格的估算值;
基于各所述估算值和预设残差计算公式,确定所述第二残差。
8.根据权利要求1所述的定位方法,其特征在于,根据所述第一残差和所述第二残差确定联合残差,包括:
将所述第一残差和所述第二残差确定为预设二元一次表达式的第一表达项和第二表达项;
基于所述预设二元一次表达式以及所述第一表达项和所述第二表达项,确定所述联合残差。
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