[发明专利]大单晶比例铸锭单晶制备方法在审
申请号: | 202110632333.6 | 申请日: | 2021-06-07 |
公开(公告)号: | CN113373515A | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 韩科选;薛赓 | 申请(专利权)人: | 苏州步科斯新材料科技有限公司 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B11/00;C30B11/14 |
代理公司: | 苏州汇智联科知识产权代理有限公司 32535 | 代理人: | 黄晶晶 |
地址: | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大单晶 比例 铸锭 制备 方法 | ||
本发明公开了大单晶比例铸锭单晶制备方法,首先制备籽晶并且进行籽晶熔接,籽晶熔接完成后,通过缓慢降温,使得籽晶先进行横向生长,即从籽晶的四个侧面向外进行生长,当晶体横向长满整个坩埚底部达到四面的坩埚壁时,筑基阶段完成后,晶体开始向上的垂直生长,直到晶体长到距顶部还有20~50mm时,保持顶部的正向温度梯度,以确保顶部硅液不会发生先行凝固成壳的情况,保持顶部温度1550℃,实现顶部定向加热,晶体开始生长,整个长晶过程会持续24小时左右;在1356℃退火2小时、并冷却10小时即得大单晶硅锭;本发明能够提高保证在用铸锭法进行单晶生长时,结合特定的坩埚结构,不会产生多晶形核,从源头上消除了铸锭单晶的多晶形核的可能性。
技术领域
本发明涉及硅晶体生长技术领域,具体涉及大单晶比例铸锭单晶制备方法。
背景技术
现有的单晶硅晶体生长主要采用CZ法直拉单晶生长方式。系采用石英玻璃坩埚承载多晶硅,在炉内熔化后,用籽晶从上方缓慢吊入硅液,经过缩颈、放肩工序后进行等径生长。籽晶通常是直径10毫米左右,长度约50~100毫米的单晶棒,用金属丝牵引从上至下放置到硅液中。
目前传统的铸锭单晶则同样是将多块籽晶平铺在坩埚底部的,籽晶的大小与铸锭后所切割的小硅方的平面尺寸相同,厚度在20毫米到50毫米之间;籽晶铺设的数量与坩埚的规格对应,比如G6坩埚铺设36块,G7坩埚铺49块,G8坩埚铺设64块;籽晶铺好后,上面放入多晶硅料,加热熔化(熔化是要保证所有籽晶的上部都熔化,但同时不得发生籽晶熔穿的情形);然后通过底部冷却,晶体从底部的籽晶开始向上生长。
现在几乎所有的铸锭单晶硅的厂家都采取这种方式,对于籽晶的加工,只有尺寸的要求,没有的其它要求。鉴于以上缺陷,实有必要设计大单晶比例铸锭单晶制备方法。
发明内容
本发明的目的在于提供大单晶比例铸锭单晶制备方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:大单晶比例铸锭单晶制备方法,包括如下步骤:
步骤1,制备籽晶:
(a)制备籽晶片:在单晶体进行定向选取,选取定晶向的单晶体、作为籽晶片原料,将籽晶片原料制成直径为10mm~20mm、厚度为3mm~5mm单晶片,然后进行表面光学抛光至表面粗糙度≤10nm,得到籽晶片;
(b)籽晶放置:将加工好的籽晶放入铸锭单晶专用的坩埚底部的籽晶槽内,放置时确保籽晶底部与坩埚底部无缝接触;
(c)装料:装入单晶硅前,用硅片盖住籽晶,勿使单晶硅料与籽晶发生撞击,以免损伤籽晶表面,导致籽晶内部产生位错;
(d)熔料:装料完成后开炉,进入熔料阶段时,注意坩埚顶部和底部的温度,要使得坩埚内的硅液内部保持向上的正向的垂直温度梯度;
(e)籽晶熔接:熔料接近结束时,坩埚底部的温度要始终保持在低于熔点的合适温度区间内,籽晶就能够与硅熔体产生正常的熔接,为下一步的晶体生长的筑基阶段做好准备;
(f)筑基:籽晶熔接完成后,首先底部缓慢降温,使得籽晶先进行横向生长,即从籽晶的四个侧面向外进行生长,当晶体横向长满整个坩埚底部达到四面的坩埚壁时,筑基阶段完成;
步骤2,晶体生长:
随后晶体开始向上的垂直生长,直到晶体长到距顶部还有20~50mm时,保持顶部的正向温度梯度,以确保顶部硅液不会发生先行凝固成壳的情况,保持顶部温度1550℃,实现顶部定向加热,晶体开始生长,整个长晶过程会持续24小时左右;在1356℃退火2小时、并冷却10小时即得大单晶硅锭;
步骤3,回收可重复使用的籽晶:
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