[发明专利]一种MiniLED的检测分选系统

说明书

本发明提出了一种MiniLED的检测分选系统，包括联动仪，芯片测试仪，芯片分选仪，数据传输系统，省时计算系统。本发明通过设有的联动仪将芯片测试仪和芯片分选仪联动起来，且能获取最优测试和分选分配方案，在代替人工上下料，节省人力的同时，提高了速度，提高了效率，降低了成本，减少了操作时间，实现了自动化，增加了测试分选厂家的利润，具有极大的市场空间，值得全行业推广使用。

技术领域

本发明属于LED检测技术领域，具体涉及一种MiniLED的检测分选系统。

背景技术

LED的点分设备的作用是将蓝膜上的LED阵列按照同一光学参数和电学参数的LED分选出来。通常LED的点分设备分为两种，分别为芯片测试仪和芯片分选仪，两者分属两台独立的机器，带芯片的蓝膜被芯片测试仪测试完毕后，需要人工的将带芯片的蓝膜取下，并将带芯片的蓝膜放置到芯片分选仪仪上区进行二次分选。这样需要进行两次人工操作，芯片分选仪和芯片测试仪无联动，自动化程度不高，从而导致人力浪费严重，整体效率低下。

发明内容

为解决上述问题，本发明提出了一种MiniLED的检测分选系统，能将芯片分选仪和芯片测试仪联动起来，大幅提升系统整体自动化程度。

为了达到上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种MiniLED的检测分选系统，包括联动仪，芯片测试仪，芯片分选仪，数据传输系统，省时计算系统；所述芯片测试仪用于测试单个蓝膜上的若干阵列芯片，所述芯片分选仪用于根据芯片测试仪的数据分选单个蓝膜上已测试的若干阵列芯片，所述联动仪用于将带待测试待分选芯片的蓝膜传送至芯片测试仪上，并在测试完成后将带已测试待分选芯片的蓝膜传送至芯片分选仪上；数据传输系统用于将联动仪，芯片测试仪和芯片分选仪上操作的带芯片的蓝膜上的测试数据相互传输；省时计算系统用于根据联动仪、芯片测试仪和芯片分选仪的相互位置关系计算结合系统参数将带芯片的蓝膜分配给最优的一个芯片测试仪或芯片分选仪，联动仪把带待分选芯片的蓝膜传送至此最优芯片测试仪上进行测试，并在测试完成后将带已测试待分选芯片的蓝膜传送至最优芯片分选仪上，使得整个芯片测试分选所用总时间最少。

进一步的，所述联动仪包括：机械手臂、摄像头、移动系统、定位系统、机械控制系统、联动仪支撑结构、机械移动系统、联动仪存储区域；机械移动系统设置在联动仪底部带动联动仪整体移动，联动仪支撑结构设置在机械移动系统上方；定位系统连接在联动仪支撑结构上，用于为联动仪进行定位；移动系统与机械手臂连接，控制机械手臂的水平方向移动；联动仪存储区域设置在联动仪支撑结构上。

进一步的，省时计算系统根据芯片测试仪发送的芯片需求信号、各芯片测试仪的测试速度、联动仪的移动速度、联动仪针对各测试仪的上下料时间以及联动仪和不同芯片测试仪的相对距离综合判断综合测试时间；省时计算系统根据芯片分选仪发送的芯片需求信号、各芯片分选仪的分选速度、蓝膜上的芯片数量、联动仪的移动速度、联动仪针对各分选仪的上下料时间以及联动仪和不同芯片分选仪的相对距离综合判断综合分选时间；基于综合测试时间和综合分选时间计算整个芯片测试分选所用总时间，使得总时间最小。

进一步的，整个芯片测试分选所用总时间t＝tc+tf，tc为综合测试时间，tf为综合分选时间；所述综合测试时间通过下式计算：

tc＝nc/vcn+lcn/vcl+tcn

vcn为第n台测试仪测试一颗芯片的测试速度，nc为蓝膜上的芯片数量，lcn为联动仪和第n个芯片测试仪的相对距离，vcl为联动仪的移动速度，tcn为联动仪针对第n个测试仪的上下料时间；

所述综合分选时间通过下式计算：

tf＝nf/vfn+lfn/vfl+tfn

vfn为第n台分选仪分选一颗芯片的分选速度，nf为蓝膜上的芯片数量，lfn为联动仪和第n个芯片分选仪的相对距离，vfl为联动仪的移动速度，tfn为联动仪针对第n个分选仪的上下料时间。