[发明专利]一种MiniLED的检测分选系统

权利要求书

1.一种MiniLED的检测分选系统，其特征在于：包括联动仪，芯片测试仪，芯片分选仪，数据传输系统，省时计算系统；所述芯片测试仪用于测试单个蓝膜上的若干阵列芯片，所述芯片分选仪用于根据芯片测试仪的数据分选单个蓝膜上已测试的若干阵列芯片，所述联动仪用于将带待测试待分选芯片的蓝膜传送至芯片测试仪上，并在测试完成后将带已测试待分选芯片的蓝膜传送至芯片分选仪上；数据传输系统用于将联动仪，芯片测试仪和芯片分选仪上操作的带芯片的蓝膜上的测试数据相互传输；省时计算系统用于根据联动仪、芯片测试仪和芯片分选仪的相互位置关系计算结合系统参数将带芯片的蓝膜分配给最优的一个芯片测试仪或芯片分选仪，联动仪把带待分选芯片的蓝膜传送至此最优芯片测试仪上进行测试，并在测试完成后将带已测试待分选芯片的蓝膜传送至最优芯片分选仪上，使得整个芯片测试分选所用总时间最少；

省时计算系统根据芯片测试仪发送的芯片需求信号、各芯片测试仪的测试速度、联动仪的移动速度、联动仪针对各测试仪的上下料时间以及联动仪和不同芯片测试仪的相对距离综合判断综合测试时间；省时计算系统根据芯片分选仪发送的芯片需求信号、各芯片分选仪的分选速度、蓝膜上的芯片数量、联动仪的移动速度、联动仪针对各分选仪的上下料时间以及联动仪和不同芯片分选仪的相对距离综合判断综合分选时间；基于综合测试时间和综合分选时间计算整个芯片测试分选所用总时间，使得总时间最小；

整个芯片测试分选所用总时间t=t_c+t_f，t_c为综合测试时间，t_f为综合分选时间；所述综合测试时间通过下式计算：

t_c=n_c/v_cn+l_cn/v_cl+t_cn

v_cn为第n台测试仪测试芯片的测试速度，n_c为蓝膜上的芯片数量，l_cn为联动仪和第n个芯片测试仪的相对距离，v_cl为联动仪的移动速度，t_cn为联动仪针对第n个测试仪的上下料时间；

所述综合分选时间通过下式计算：

t_f=n_f/v_fn+l_fn/v_fl+t_fn

v_fn为第n台分选仪分选芯片的分选速度，n_f为蓝膜上的芯片数量，l_fn为联动仪和第n个芯片分选仪的相对距离，v_fl为联动仪的移动速度，t_fn为联动仪针对第n个分选仪的上下料时间。

2.根据权利要求1所述的MiniLED的检测分选系统，其特征在于：所述联动仪包括：机械手臂、摄像头、移动系统、定位系统、机械控制系统、联动仪支撑结构、机械移动系统、联动仪存储区域；机械移动系统设置在联动仪底部带动联动仪整体移动，联动仪支撑结构设置在机械移动系统上方；定位系统连接在联动仪支撑结构上，用于为联动仪进行定位；移动系统与机械手臂连接，控制机械手臂的水平方向移动；联动仪存储区域设置在联动仪支撑结构上。

3.根据权利要求1所述的MiniLED的检测分选系统，其特征在于：所述芯片测试仪包括：光探测头、探针、蓝膜移动装置、定位部件、测试仪支撑结构、移动马达、光隔离器件，测试仪支撑结构设置在芯片测试仪底部，光隔离器件设置在芯片测试仪外围，移动马达与蓝膜移动装置连接，用于驱动蓝膜移动装置移动，蓝膜移动装置上设置有定位部件,光探测头和探针用于测试芯片。

4.根据权利要求3所述的MiniLED的检测分选系统，其特征在于：所述芯片测试仪用于测试芯片的光学参数、结构参数、电学参数中的至少一种。